Formation of dislocation-free germanium on strain-induced silicon substrate
在应变诱导硅衬底上形成无位错锗
基本信息
- 批准号:23656208
- 负责人:
- 金额:$ 2.5万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
- 财政年份:2011
- 资助国家:日本
- 起止时间:2011 至 2012
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
A method to decrease the dislocation density in Ge grown on Si substrate was examined. Introducing a tensile lattice strain at the Si surface with a stressor of patterned SiN_x film, the lattice mismatch between Ge and Si was reduced, leading to a possible decrease of the dislocation density in Ge. Using a double layer mask of a SiO_2 layer on the SiN_x stressor, a perfect selective growth of Ge was realized on the exposed region of Si surface, although the threading dislocation density was10^9 cm^-2, being similar to those for the growth with SiO_2 masks.
研究了降低在Si衬底上生长的Ge的位错密度的方法。通过图案化SiN_x薄膜的应力源在Si表面引入拉伸晶格应变,减少了Ge和Si之间的晶格失配,从而可能降低Ge中的位错密度。利用SiN_x应力源上的SiO_2层双层掩模,在Si表面暴露区域实现了Ge的完美选择性生长,尽管穿透位错密度为10^9 cm^-2,与生长的情况相似。与 SiO_2 掩膜。
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Si上Ge層を用いた□アクティブ光デバイス
□使用Si上Ge层的有源光学器件
- DOI:
- 发表时间:2012
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Y. Suda;Y. Sugioka;R. Kunimoto;H. Tanoue;H. Takikawa;H. Ue;K. Shimizu and Y. Umeda;國本 隆司, 米村 泰一郎,須田 善行,田上 英人,滝川 浩史,植 仁志,清水 一樹,梅田 良人;Yasuhiko Ishikawa;石川靖彦
- 通讯作者:石川靖彦
Si/Ge Photon. for Comm. & Sens. Appl.
硅/锗光子。
- DOI:
- 发表时间:2011
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:滝川 浩史;他;Yasuhiko Ishikawa
- 通讯作者:Yasuhiko Ishikawa
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- DOI:
- 发表时间:2012
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Y. Suda;Y. Sugioka;R. Kunimoto;H. Tanoue;H. Takikawa;H. Ue;K. Shimizu and Y. Umeda;國本 隆司, 米村 泰一郎,須田 善行,田上 英人,滝川 浩史,植 仁志,清水 一樹,梅田 良人;Yasuhiko Ishikawa
- 通讯作者:Yasuhiko Ishikawa
Si上Ge層を用いたアクティブ光デバイス
使用 Si 上的 Ge 层的有源光学器件
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:T. Kamihira;Maziah. N. B. Ishak;S. Narita and H. Yamada;滝川浩史 ほか;石川靖彦
- 通讯作者:石川靖彦
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- DOI:
- 发表时间:2011
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:杉岡 由基;須田 善行;田上 英人;滝川 浩史;植 仁志;清水 一樹;梅田 良人;Yasuhiko Ishikawa
- 通讯作者:Yasuhiko Ishikawa
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