気体X線散乱法を用いた電子相関の研究

气体X射线散射法电子关联研究

基本信息

批准号：
12740309
负责人：
渡邉昇
金额：
$ 0.96万
依托单位：
Tohoku University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
2000
资助国家：
日本
起止时间：
2000 至 2001
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-12740309/
关键词：
気体X線散乱実験電子相関 CISD CCSD

项目摘要

エネルギー分散型の気体X線散乱強度測定装置を開発するのと同時に、耐圧型の試料セルの製作など、周辺機器の整備を行った。本装置を用い、更に様々な解析上の工夫を加えることにより、定量的なX線散乱強度の測定を可能とした。この手法を用いることで、基本的な試料であるN_2、CO、N_2Oに関して、X線散乱強度の定量的な測定に成功した。更に実験と同時に理論計算にも着手し、Hartree-Hockレベルおよび電子相関を取り入れたCISD、CCSDレベルでの理論的波動関数より、X線散乱強度を計算した。実験値と理論値との比較により、X線散乱強度に現れる電子相関の効果やab-initio計算における基底関数の影響を論じると伴に、現代の量子化学計算の問題点を明らかにした。これにより、気体X線散乱実験が電子相関の効果を研究する上で有効な実験手段であることを示した。以上の結果に関して、現在論文を執筆および投稿中である。また、本研究の成果に関して化学と工業誌(日本化学会)に以下のような総説を発表している。"電子と電子は反発する:X線散乱により電子相関を直接観測する"渡辺昇、化学と工業誌、Vol.54、132-135(2001)

同时，我们开发了一种能量分散性气体X射线散射强度测量设备，还进行了外围设备，包括产生耐压样品单元。使用此设备，已经添加了各种分析性，以允许定量测量X射线散射强度。使用此技术，基本样品N_2，CO和N_2O的X射线散射强度的定量测量成功。此外，还与实验同时进行了理论计算，并使用CISD和CCSD水平的理论波函数计算X射线散射强度，该函数融合了Hartree-Hock水平和电子相关性。通过比较实验值和理论值，我们讨论了出现在X射线散射强度上的电子相关性的影响以及在AB-Initio计算中基本功能的影响，并阐明了现代量子化学计算的问题。这表明气体X射线散射实验是研究电子相关作用的有效实验工具。关于上述结果，我目前正在撰写和提交论文。此外，关于这项研究结果的化学和工业杂志（日本化学学会）发表了以下综述。 “电子和电子排斥：通过X射线散射直接观察电子相关性，”《化学与工业杂志》，第1卷。 54，132-135（2001）