Elucidation and control of generation mechanism of non-radiative defects in diamond crystal

金刚石晶体非辐射缺陷产生机制的阐明与控制

基本信息

  • 批准号:
    16K06262
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.91万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2016
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2016-04-01 至 2020-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(0)
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专利数量(0)
ダイヤモンド(111)基板ホモエピタキシャル成長における基板オフ方位及びメタン濃度依存性
金刚石(111)衬底上同质外延生长的衬底偏离方向和甲烷浓度依赖性
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    児玉大志;毎田修;伊藤利道
  • 通讯作者:
    伊藤利道
Transient photocapacitance measurement for characterization of deep defects in B-doped diamond films
瞬态光电容测量用于表征 B 掺杂金刚石薄膜中的深层缺陷
  • DOI:
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    O. Maida;T. Kodama;D. Kanemoto and Tetsuya Hirose;毎田 修,兼本 大輔,廣瀬 哲也;毎田 修,兼本 大輔,廣瀬 哲也;Osamu Maida and Ryosuke Yamashita
  • 通讯作者:
    Osamu Maida and Ryosuke Yamashita
単結晶ダイヤモンドのレーザー切断(001)面における電気伝導性及びCLスペクトルの表面処理依存性
单晶金刚石激光切割 (001) 面上电导率和 CL 光谱的表面处理依赖性
  • DOI:
  • 发表时间:
    2016
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    中塚篤志; 本田眞彬;中野百恵;竹原宏明;野田俊彦;笹川清隆;徳田 崇;西山靖浩;垣内喜代三;太田 淳;丸岡 憲史,内藤 大樹,毎田 修,伊藤 利道
  • 通讯作者:
    丸岡 憲史,内藤 大樹,毎田 修,伊藤 利道
(111)ダイヤモンド基板上ホモエピタキシャル成長におけるメタン濃度
(111)金刚石基板上同质外延生长的甲烷浓度
  • DOI:
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    O. Maida;T. Kodama;D. Kanemoto and Tetsuya Hirose;毎田 修,兼本 大輔,廣瀬 哲也;毎田 修,兼本 大輔,廣瀬 哲也;Osamu Maida and Ryosuke Yamashita;毎田修,兼本大輔,廣瀬哲也
  • 通讯作者:
    毎田修,兼本大輔,廣瀬哲也
SiOxハードマスクを用いた高アスペクト比ダイヤモンドエッチングプロセス
使用 SiOx 硬掩模的高深宽比金刚石蚀刻工艺
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Z. Xu;B. Gu;M. Mori;T. Ziman;and S. Maekawa;別府 晟多,毎田 修,伊藤 利道
  • 通讯作者:
    別府 晟多,毎田 修,伊藤 利道
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  • 期刊:
  • 影响因子:
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  • 作者:
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  • 通讯作者:
    Susumu Horita and Puneet Jain
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  • 影响因子:
    0.8
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    Matsumoto Kaori;Asano Hiroki;Nakazawa Yuichiro;Kuroki Nobutaka;Numa Masahiro;Maida Osamu;Kanemoto Daisuke;Hirose Tetsuya
  • 通讯作者:
    Hirose Tetsuya
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  • DOI:
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  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0.8
  • 作者:
    Nishi Masaya;Matsumoto Kaori;Kuroki Nobutaka;Numa Masahiro;Sebe Hikaru;Matsuzuka Ryo;Maida Osamu;Kanemoto Daisuke;Hirose Tetsuya
  • 通讯作者:
    Hirose Tetsuya
Highly effective removal of OH bonds in low-temperature silicon oxide films by annealing with ammonia gas at a low temperature of 175 °C
175℃低温氨气退火高效去除低温氧化硅薄膜中的OH键
  • DOI:
    10.7567/1347-4065/aafb64
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Miyawaki Kenta;Yamashita Ryosuke;Kodama Taishi;Maida Osamu;Susumu Horita
  • 通讯作者:
    Susumu Horita

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  • 财政年份:
    2024
  • 资助金额:
    $ 2.91万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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