In-situ observation and analysis of nano contacts and junctions formation at high temperatures by a combined microscope of SEM and SPM

SEM和SPM组合显微镜对高温下纳米接触和结形成的原位观察和分析

• 批准号: 22656012
• 负责人: TOMITORI Masahiko
• 金额: $ 2.41万
• 依托单位: Japan Advanced Institute of Science and Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2010 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22656012/
• 关键词: ナノコンタクト; 表面・界面物性; 走査プローブ顕微鏡; 走査電子顕微鏡; 物性実験

The purpose of this study is to observe and analyze nano contacts and junctions, which are fabricated by bringing two small pieces of materials in proximity or in touch at high temperatures using scanning probe microscopy (SPM) techniques; the techniques can control the separation between them on a nano scale. We successfully demonstrated the approaching, contacting and welding between the two pieces, observed by an ultra-high resolution field-emission scanning electron microscope combined with a home-made pencil-type SPM.

本研究的目的是观察和分析纳米接触和结，这些接触和结是通过使用扫描探针显微镜 (SPM) 技术在高温下将两小块材料靠近或接触而制成的；该技术可以在纳米尺度上控制它们之间的分离。通过超高分辨率场发射扫描电子显微镜结合自制铅笔式SPM观察，我们成功地演示了两块之间的接近、接触和焊接。

项目成果

ナノ評価のための走査型プローブ顕微鏡法の概説と最近の話題

用于纳米评估的扫描探针显微镜概述和最新主题

• 期刊: 色材協会誌 (in print)
• 作者: S.Kondo;H.Kondo;M.Hiramatsu;M.Sekine;M.Hori;Sumito Tsunegi;富取正彦
• 通讯作者: 富取正彦

Local interaction imaging by SiGe quantum dot probe

SiGe量子点探针局部相互作用成像

• 发表时间: 2012
• 期刊: Curr. Appl. Phys
• 作者: Y. Jeong;M. Hirade;R. Kokawa;H. Yamada;K. Kobayashi;N. Oyabu;T. Arai;A. Sasahara;and M. Tomitori
• 通讯作者: and M. Tomitori

Improvement of the Q factor of a tuning fork quartz force sensor with modified holding ways for nc-AFM/STM

改进 nc-AFM/STM 固定方式的音叉石英力传感器 Q 值的提高

• 发表时间: 2012
• 作者: Toyoko Arai;Hiroaki Ooe;Tatsuya Sakuishi;Masahiko Tomitori
• 通讯作者: Masahiko Tomitori

Akira Sasahara and Masahiko Tomitori

笹原晃和富鸟正彦

• 发表时间: 2012
• 期刊: Local interaction imaging by SiGe quantum dot probe, Current Appl
• 作者: Yonkil Jeong;Masato Hirade;Ryohei Kokawa;Hirofumi Yamada;Kei Kobayashi;Noriaki Oyabu;Toyoko Arai
• 通讯作者: Toyoko Arai

SPM のフロンティア ～多様な材料系の研究ニーズに対応するSPM物性計測の最先端～

SPM前沿 - 尖端SPM物性测量，满足多样化材料体系的研究需求 -

• 发表时间: 2012
• 期刊: ペンシル型走査型プローブ顕微鏡の開発、顕微鏡
• 作者: Yonkil Jeong;Masato Hirade;Ryohei Kokawa;Hirofumi Yamada;Kei Kobayashi;Noriaki Oyabu;Toyoko Arai;富取 正彦
• 通讯作者: 富取 正彦