Analysis of binding formation between solid surfaces by bias voltage non-contact atomic force microscopy/spectroscopy

通过偏置电压非接触原子力显微镜/光谱分析固体表面之间的结合形成

基本信息

项目摘要

We improved our method of bias nc-AFM/S, and applied this to analysis of binding formation between a surface and a tip, and of electronic states between them. For instance, on H-terminated Si(111) 7×7, the force between the Si adatom terminated with H and a Si tip is weaker and the current between them is less. The force between them, where the Si rest atom neighboring the Si adatom is terminated with H, is stronger and the current is larger. This indicates that the force between Si and Si strongly depends on surface local density of states as well as electron tunneling process does.
我们改进了偏置 nc-AFM/S 方法,并将其应用于表面和尖端之间的结合形成以及它们之间的电子态的分析,例如,在 H 封端的 Si(111) 7×7 上,以H封端的Si吸附原子和Si尖端之间的力较弱,它们之间的电流较小。与Si吸附原子相邻的Si其余原子以H封端的情况下,它们之间的力较强,并且电流较大。表明Si 和 Si 之间的力很大程度上取决于表面局部态密度以及电子隧道过程。

项目成果

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Positioning mechanism and microscope with the same(ポジショニング機構、及び、それを用いた顕微鏡)
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  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
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  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    K. Kitade;他;Chi Lun Pang
  • 通讯作者:
    Chi Lun Pang
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  • DOI:
  • 发表时间:
    2010
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Takashi Nishimura;Atsushi Itabashi;Akira Sasahara;Hideyuki Murata;Toyoko Arai;Masahiko Tomitori
  • 通讯作者:
    Masahiko Tomitori
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  • DOI:
  • 发表时间:
    2009
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
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  • 通讯作者:
    新井豊子
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  • DOI:
  • 发表时间:
    2009
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    小島領太;M. M. Rahman;M. ElF. Fihry;木村康男;庭野道夫;笹原亮
  • 通讯作者:
    笹原亮
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