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Supply Current Testable Design of DACs in SoCs
SoC 中 DAC 的电源电流可测试设计
基本信息
- 批准号：22650009
- 负责人：
- 金额：$ 1.52万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
- 财政年份：2010
- 资助国家：日本
- 起止时间：2010 至 2011
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
We developed a test method and its testable design methods for digital to analog convertors(DACs) implemented in SoCs(System-on-Chips) by measuring supply current. Also, we evaluated the testability of the test method and area overhead of the testable design methods. The results show us that a DAC in an SoC can be tested with a smaller number of test vectors by our supply current test method than a functional test one and the area overhead is not so large.
我们通过测量电源电流开发了一种用于在SOCS（System-on-Chips）中实现的数字到模拟转换器（DAC）的测试方法及其可测试的设计方法。此外，我们评估了可测试设计方法的测试方法和面积开销的可测试性。结果表明，通过我们的电源电流测试方法比功能性测试一号测试，可以用SOC中的DAC进行测试，而开销的面积并不大。
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
A Supply Current Testable DAC of Resistor String Type
电阻串型电源电流可测试DAC
- DOI：
- 发表时间：2012
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Masaki Hashizume;Hiroyuki Yotsuyanagi;Yukiya Miura
- 通讯作者：Yukiya Miura
抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計
旨在促进电阻梯型 DAC 中 MOS 短路的电流测试
- DOI：
- 发表时间：2011
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：橋爪正樹;秦豊;四柳浩之;三浦幸也
- 通讯作者：三浦幸也
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- 作者：
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ROTH Zvi
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