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Current Testing for Opens and Shorts in SoCs and SiPs
当前 SoC 和 SiP 中的开路和短路测试
基本信息
- 批准号：18500039
- 负责人：
- 金额：$ 2.58万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份：2006
- 资助国家：日本
- 起止时间：2006 至 2008
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
SoC(System on a Chip), SiP(System in Package)というICおよびそれらを用いた回路製造時に断線や短絡故障が発生する。近年, それらの応用製品の高信頼化要求が高まり, それらの故障を確実に発見する検査法の開発が求められている。本研究ではIC, 回路への電源電流測定によりそれを実現する検査法と検査回路の開発を行い, 従来では見逃す故障も発見できることを明らかにした。
使用这些ICS的ICS（SOC），SIP（包装中的系统）以及电路中发生断开和短路故障。近年来，这些应用产品对高可靠性的需求日益增长，并且有必要开发可以可靠地检测出失败的检查方法。在这项研究中，我们开发了一种测试方法和测试电路，该方法通过测量IC和电路的电流电流来意识到这一点，并揭示了可以检测到以前被忽略的故障。
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
交流電界印加時の電流テストによる CMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧
施加交流电场时，通过电流测试检测CMOS LSI的浮置引线的施加交流电压
- DOI：
- 发表时间：2007
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：高木正夫;橋爪正樹;一宮正博;四柳浩之
- 通讯作者：四柳浩之
CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品結合不良検出法
使用CMOS门电路作为断线传感器的元件接合不良检测方法
- DOI：
- 发表时间：2009
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Akira Osada;Daigo Ozawa;Haruhiko Kaiya;and Kenji Kaijiri;M.Machida;M. Machida;小野 安季良
- 通讯作者：小野 安季良
PIC16F84A内のバス故障用実時間テストプログラム
PIC16F84A总线故障实时测试程序
- DOI：
- 发表时间：2008
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：加藤健二;一宮正博;四柳浩之;橋爪正樹;嶋本 竜也
- 通讯作者：嶋本 竜也
Test Circuit for Locating Open Leads of QFP Ics
用于定位 QFP 集成电路开路引线的测试电路
- DOI：
- 发表时间：2008
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Masaki Hashizume;Akihito Shimoura;Masahiro Ichimiya;Hiroyuki Yotsuyanagi
- 通讯作者：Hiroyuki Yotsuyanagi
検査回路の電源電流測定によるICの電源リード浮き検査能力評価
通过测量测试电路的电源电流来评估IC电源引线浮动检查能力
- DOI：
- 发表时间：2009
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：小野安季良;一宮正博;四柳浩之;高木正夫;橋爪正樹
- 通讯作者：橋爪正樹
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ROTH Zvi
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