Development of passive millimeter-wave microscopy

被动毫米波显微镜的发展

• 批准号: 22360162
• 负责人: NOZOKIDO Tatsuo
• 金额: $ 12.23万
• 依托单位: University of Toyama
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2010 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22360162/
• 关键词: ミリ波; マイクロスコピー; 走査型近接場顕微鏡技術; パッシブ計測; 無侵襲計測; 熱画像計測; 低温; 画像化; 温度分布計測

In this research project, passive millimeter-wave microscopy that enables imaging of the thermal radiation emitted from a sample with a spatial resolution below the diffraction limit is investigated to demonstrate the imaging capability of this microscopy format at low temperatures. This technique utilizes a sensitive radiometric receiver in combination with a scanning near-field microscope. Experiments performed at 50 GHz （wavelength: 6 mm) at various sample temperatures show that our passive millimeter-wave microscope system can successfully image thermal radiation even in the low temperature range where passive imaging systems in the infrared region are ineffective.

在该研究项目中，研究了从衍射极限低于衍射极限的样品中发出的热辐射的被动毫米波显微镜，以证明在低温下这种显微镜格式的成像能力。该技术利用敏感的辐射接收器与扫描近场显微镜结合使用。在各种样品温度下以50 GHz（波长：6毫米）进行的实验表明，即使在红外区域中的被动成像系统无效的情况下，我们的被动毫米波显微镜系统也可以成功地对热辐射进行图像热辐射。

项目成果

Near-field thermal imaging by passive millimeter-wave microscopy

被动毫米波显微镜近场热成像

• 发表时间: 2014
• 期刊: Proceedings of the Asia-Pacific Microwave Conference 2014
• 作者: M. Ishino;S. Nakamura;and T. Nozokido
• 通讯作者: and T. Nozokido

ミリ波マイクロスコピー用高分解能スリット型プローブの開発

毫米波显微镜用高分辨率狭缝型探头的开发

• 发表时间: 2010
• 作者: 莅戸立夫;宮坂紀行
• 通讯作者: 宮坂紀行

ミリ波帯パッシブマイクロスコピーによる熱放射の近接場イメージング

使用毫米波段无源显微镜对热辐射进行近场成像

• 发表时间: 2012
• 作者: 石野学;吉田健太郎;莅戸立夫
• 通讯作者: 莅戸立夫

Enhancing the Resolution of Millimeter-Wave Microscopy Using a Metal Slit-Type Probe

使用金属狭缝型探头提高毫米波显微镜的分辨率

• 发表时间: 2010
• 期刊: 電子情報通信学会技術報告
• 作者: N.Miyasaka;T.Nozokido
• 通讯作者: T.Nozokido

ミリ波マイクロスコピーによる熱放射の近接場イメージング

使用毫米波显微镜进行热辐射近场成像

• 作者: 石野学;吉田健太郎;莅戸立夫
• 通讯作者: 莅戸立夫