Analysis of precise electron density of topological insulator thin films by applying direct methods to surface X-ray diffraction

应用表面 X 射线衍射直接法精确分析拓扑绝缘体薄膜的电子密度

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Atomic-layer resolved structure of ultra-thin films studied by X-ray CTR scattering
通过 X 射线 CTR 散射研究超薄膜的原子层分辨结构
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    W. S. Choi;H. Ohta;and H. N. Lee;高橋 敏男
  • 通讯作者:
    高橋 敏男
Si(111)-√21×√21-(Ag+Au)構造の再考察
Si(111)-√21×√21-(Ag+Au)结构的重新审视
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    山口雄大;白澤徹郎;田尻寛男;高橋敏男
  • 通讯作者:
    高橋敏男
CuドープBi2Se3薄膜の構造と電子輸送特性
Cu掺杂Bi2Se3薄膜的结构和电子传输性能
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    T. Shirasawa;M. Sugiki;T. Hirahara;M. Aitani;T. Shirai;S. Hasegawa;T. Takahashi;中村友謙,保原麗,長谷川修司,平原徹;鈴木拓,酒井治,一ノ倉聖,平原徹,長谷川修司;伊藤俊,平原徹,申東潤,一ノ倉聖,松田巌,長谷川修司;福居直哉,平原徹,長谷川修司;一ノ倉聖,酒井治,長谷川修司,平原徹,鈴木拓;白澤徹郎,杉木祐人,平原徹,長谷川修司,高橋敏男
  • 通讯作者:
    白澤徹郎,杉木祐人,平原徹,長谷川修司,高橋敏男
表面X線回折法による表面界面構造の研究
利用表面X射线衍射法研究表面和界面结构
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    J. Bamidele;Y. Kinoshita;R. Turansky;S. H. Lee;Y. Naitoh;Y. J. Li;Y. Sugawara;I. Stich;L. Kantorovich;高橋敏男
  • 通讯作者:
    高橋敏男
X線の遠まわり反射による格子ひずみ評価
通过 X 射线远场反射评估晶格畸变
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    西川史恵;平井知子;秋本晃一
  • 通讯作者:
    秋本晃一
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