Absolute Work Function Nanoscope

绝对功函数纳米显微镜

• 批准号: 19201022
• 负责人: KOSHIKAWA Takanori
• 金额: $ 31.2万
• 依托单位: Osaka Electro-Communication University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
• 财政年份: 2007
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2007 至 2010
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-19201022/
• 关键词: 光電子顕微鏡; 仕事関数; 仕事関数顕微鏡; ナノ計測; ナノ表面界面

An absolute work function microscope, which can measure the absolute work function and can image the spatial distribution of the work function on the specimen surface, has been developed in the present study. A spherical and chromatic aberration corrected optical lens system and a high-brightness monochrometer were developed as the photon source, and the work function mapping was carried out using a photo emission electron microscope.

本研究已经开发了一个绝对的工作函数显微镜，该显微镜可以测量绝对工作函数，并可以在样品表面成像功能的空间分布。开发了球形和色差校正的光学透镜系统和高亮度单一表作为光子源，并使用照片发射电子显微镜进行了工作函数映射。

项目成果

XMCDPEEMによるFe-3%Si(110)の磁区構造の温度変化

XMCDPEEM 观察 Fe-3%Si(110) 磁畴结构的温度变化

• 发表时间: 2009
• 作者: 安江常夫

Dynamic Observation of Thin Film Growth Process and Development of New Spin Gun(招待講演)

薄膜生长过程的动态观察及新型旋转枪的研制（特邀报告）

• 发表时间: 2009
• 作者: H. Hida;M. Shikida;K. Fukuzawa;S. Murakami;Ke. Sato;K. Asaumi;Y. Iriye;Ka. Sato;N. Yoshida;T.Koshikawa
• 通讯作者: T.Koshikawa

Real Time Observation of Local Magnetic Structure by High Brightness and Highly Spin polarized Low Energy Electron Microscopy

高亮度高自旋偏振低能电子显微镜实时观察局部磁结构

• 发表时间: 2010
• 作者: 池田 伸;松島綾美;下東康幸;M.Suzuki
• 通讯作者: M.Suzuki

Dynamic Observation of Ultra Thin Film Formation with LEEM and Selected Area LEED

使用 LEEM 和选定区域 LEED 动态观察超薄膜形成

• 发表时间: 2007
• 作者: Mori;Y.;T.Koshikawa
• 通讯作者: T.Koshikawa

In/Si(111)上のSbの成長過程観察

In/Si(111)上Sb生长过程的观察

• 发表时间: 2007
• 作者: C. Chen;C. Watanabe and C. Griffy-Brown;橋本 道廣
• 通讯作者: 橋本 道廣