症候性唇裂・口蓋裂の遺伝子解析による、唇裂・口蓋裂原因解明へのアプローチ

通过对有症状的唇裂和腭裂进行遗传分析来阐明唇裂和腭裂的病因

基本信息

批准号：
15659420
负责人：
山田敦
金额：
$ 2.11万
依托单位：
Tohoku University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Exploratory Research
财政年份：
2003
资助国家：
日本
起止时间：
2003 至 2004
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-15659420/
关键词：
唇裂口蓋裂遺伝子解析

项目摘要

日本人唇裂・口蓋裂の発症感受性遺伝子を同定する目的として、東北大学医学部倫理委員会の承認の基、東北大学医学部附属病院で遺伝子診断および遺伝子解析研究における遵守事項に則り、書面及び口頭で説明し、同意を得た210家系の検体を得た。症候性の唇裂・口蓋裂において、日本人以外で報告されている、Van der Woude症候群(口唇瘻孔を伴う唇裂・口蓋裂:常染色体優性遺伝)におけるIRF6遺伝子変異、Rapp-Hodgkin症候群(外胚葉形成不全-唇裂・口蓋裂症候群:常染色体優性遺伝)におけるp63遺伝子変異を日本人で初めて確認した。方法は以下の通りである。Van der Woude症候群3家系とRapp-Hodgkin症候群1家系の患者とその両親より、末梢血細胞を採取しDNAを抽出した。IRF6遺伝子とp63遺伝子の各エクソンをPCR法で増幅し、直接塩基同定法にて各エクソンの配列を同定した。エクソン内の塩基置換を同定し、その塩基置換が、正常日本人50人に認めないことを確認した。また家系内の正常者に認めないことを確認した。これにより塩基置換が病因遺伝子変異と考えた。OFD-I症候群(口腔・顔面・指奇形)におけるOFD-I遺伝子の変異を、上記と同様な方法でスクリーニングしたが同定できなかった。

为了确定日本人唇裂和腭裂的易感基因，经东北大学医学院伦理委员会批准，根据日本东北大学医院的规定，以书面和口头形式进行了解释。基因诊断和基因分析研究的规则从210个同意的家庭中获取样本。在非日本患者中已有症状性唇裂和腭裂的报道，包括 Van der Woude 综合征（与唇瘘相关的唇裂和腭裂：常染色体显性遗传）和 Rapp-Hodgkin 综合征（外胚层形成）中的 IRF6 基因突变。与唇腭裂综合征（常染色体显性遗传）相关的基因突变首次在日本患者中得到证实。方法如下。收集了 3 个 Van der Woude 综合征家庭和 1 个 Rapp-Hodgkin 综合征家庭的患者及其父母的外周血细胞并提取了 DNA。通过PCR方法扩增IRF6基因和p63基因的各外显子，并通过直接碱基鉴定法鉴定各外显子的序列。我们鉴定了外显子内的碱基替换，并确认在 50 名正常日本人中未观察到碱基替换。还证实家庭正常成员不会受到影响。这使我们相信碱基替换是致病基因突变。我们使用与上述相同的方法筛选了与 OFD-I 综合征（口腔、面部和数字畸形）相关的 OFD-I 基因突变，但无法识别它们。