Probenmanipulation für mechanische und elektrische in-situ Messungen im Transmissionselektronenmikroskop

透射电子显微镜中机械和电气原位测量的样品操作

基本信息

批准号：
195861669
负责人：
金额：
--
依托单位：
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
依托单位国家：
德国
项目类别：
Major Research Instrumentation
财政年份：
2011
资助国家：
德国
起止时间：
2010-12-31 至无数据
项目状态：
未结题

来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/195861669?language=en
关键词：
Probenmanipulation mechanische und elektrische situ

项目摘要

„Die Arbeitsgruppen im Erlanger Exzellenzcluster Engineering of Advanced Materials beschäftigen sich mit Materialien mit hierarchischem Strukturaufbau und maßgeschneiderten Eigenschaften. Eine wichtige Voraussetzung für die Entwicklung solcher Materialien ist die Möglichkeit, Struktur und Materialeigenschaften auf verschiedenen Längenskalen charakterisieren und miteinander korrelieren zu können. Die geplante Beschaffung einer Manipulatoreinheit für nanomechanische u. nanoelektrische in-situ Messungen in Transmissionselektronenmikroskopen schließt hier eine wichtige Lücke. Durch die Kombination von TEM-AFM und TEM-Nanoindenter werden nanomechanische Untersuchungen in überlappenden Längenbereichen von 1 nm bis 1 µm und Kräftebereichen von 1 nN bis 2 mN möglich. Mit dem TEM-STM Manipulator können elektrische Messungen bis in den 10 pA-Bereich bei gleichzeitiger Beobachtung von Nanostrukturen und ihrer Kontakte durchgeführt werden. Die Forschungsvorhaben, in denen die verschiedenen Möglichkeiten der Manipulatoreinheit kombiniert werden sollen, reichen von Fragestellungen zu Kohäsionskräften zwischen Nanopartikeln über größenabhängige Defektprozesse bei der Partikelzerkleinerung, nanoelektrische und -mechanische Eigenschaften metallischer Nanodrähte, die in transparenten Elektroden eingesetzt werden, Aspekten der Bildung neuer C-Modifikationen durch mechanische Delamination, bis hin zu der für die druckbare Elektronik zentralen Frage des Ladungstransports über Partikelgrenzflächen in nanopartikulären Schichten.“

``Die Arbeitsgruppen im Erlanger Exzellenzcluster Engineering of Advanced Materials beschäftigen sich mit Materialien mit hierarchischem Strukturaufbau und maßgeschneiderten Eigenschaften。请注意以下事项。 TEM-AFM 和 TEM-Nanoindenter werden nanomechanische Untersuchungen in überlappenden Längenbereichen von 1 nm bis 1 µm 和 Kräftebereichen von 1 nN bis 2 mN möglich 的组合。 10 pA-Bereich bei gleichzeitiger Beobachtung von Nanostrukturen und ihrer Kontakte durchgeführt werden。 zwischen Nanopartikeln über größenabhängige Defektprozesse bei der Partikelzerkleinerung, nanoelektrische und -mechanische Eigenschaften metallischer Nanodrähte, die in 透明Elektroden eingesetzt werden, Aspekten der Bildung neuer C-Modifikationen durch machine分层，bis hin zu der für die druckbare Elektronik zentralen Frage des Ladungstranssports über Partikelgrenzflächen in nanopartikulären Schichten。“

项目成果

期刊论文数量（2）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Direct observation of electron-beam-induced densification and hardening of silica nanoballs by in situ transmission electron microscopy and finite element method simulations

DOI：
10.1016/j.actamat.2014.05.046
发表时间：
2014-10-15
期刊：
ACTA MATERIALIA
影响因子：
9.4
作者：
Mackovic, M.;Niekiel, F.;Spiecker, E.
通讯作者：
Spiecker, E.

A microspectroscopic insight into the resistivity switching of individual Ag-TCNQ nanocrystals.

对单个 Ag-TCNQ 纳米晶体电阻率转换的显微光谱观察

DOI：
10.1039/c5cp02207j
发表时间：
2015
期刊：
Physical chemistry chemical physics : PCCP
影响因子：
0
作者：
Benedikt Rösner;Ke Ran;Ute Schmidt;Benjamin Butz;Erdmann Spiecker;Rainer H. Fink
通讯作者：
Rainer H. Fink