CAREER: Design-For-Testability in Core-Based Designs

职业:基于核心的设计中的可测试性设计

基本信息

  • 批准号:
    9702236
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 22.85万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    美国
  • 项目类别:
    Continuing Grant
  • 财政年份:
    1997
  • 资助国家:
    美国
  • 起止时间:
    1997-09-01 至 2003-08-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

In order to shorten product development cycles for integrated circuits and systems, pre-designed cores are widely used as part of the on-chip logic. Testing core-based designs is a major issue because the internal design of the core may not be known if it is intellectual property. In that case standard manufacturing test strategies will not suffice. This research is exploring new methodologies for testing chips with embedded cores. The approach is to find methods for synthesizing the user-defined logic, in which cores reside, so that the whole design meets area, performance and test criteria. Synthesis algorithms are being developed which address the following concerns: 1. Application of test vectors to inputs of the core. 2. Observation of outputs from the user-defined logic that drive the inputs of the core. 3. Testing the user-defined logic driven by the outputs of the core. 4. Observation of outputs from the core.
为了缩短集成电路和系统的产品开发周期,预先设计的内核被广泛用作片上逻辑的一部分。测试基于内核的设计是一个主要问题,因为内核的内部设计可能不知道是否具有知识产权。在这种情况下,标准制造测试策略是不够的。这项研究正在探索测试嵌入式内核芯片的新方法。该方法是找到综合内核所在的用户定义逻辑的方法,以便整个设计满足面积、性能和测试标准。正在开发解决以下问题的综合算法: 1. 将测试向量应用于内核的输入。 2. 观察驱动内核输入的用户定义逻辑的输出。 3. 测试由内核输出驱动的用户定义逻辑。 4. 观察核心的输出。

项目成果

期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)

数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}

{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ patent.updateTime }}

Nur Touba其他文献

Nur Touba的其他文献

{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

{{ truncateString('Nur Touba', 18)}}的其他基金

SHF: Small: Reliable Storage and Computation in Memory Technologies
SHF:小型:内存技术中的可靠存储和计算
  • 批准号:
    2113914
  • 财政年份:
    2021
  • 资助金额:
    $ 22.85万
  • 项目类别:
    Standard Grant
SHF:Small: Reducing Test Time and Improving Diagnosis for Increasingly Dense ICs
SHF:Small:减少测试时间并改进对日益密集的 IC 的诊断
  • 批准号:
    1617665
  • 财政年份:
    2016
  • 资助金额:
    $ 22.85万
  • 项目类别:
    Standard Grant
SHF: Small: Efficient Test and Yield Enhancement Techniques for 3D Integrated Circuits
SHF:小型:3D 集成电路的高效测试和良率增强技术
  • 批准号:
    1217750
  • 财政年份:
    2012
  • 资助金额:
    $ 22.85万
  • 项目类别:
    Standard Grant
SHF:Small: Next Generation Test Compression Technology
SHF:Small:下一代测试压缩技术
  • 批准号:
    0916837
  • 财政年份:
    2009
  • 资助金额:
    $ 22.85万
  • 项目类别:
    Standard Grant
ITR - (ASE) - (int): CAD for Reducing Soft Error Failure Rates in Logic Circuits
ITR - (ASE) - (int):用于降低逻辑电路中软错误故障率的 CAD
  • 批准号:
    0426608
  • 财政年份:
    2004
  • 资助金额:
    $ 22.85万
  • 项目类别:
    Continuing Grant
Hybrid External/Built-In Self-Test Techniques
混合外部/内置自测试技术
  • 批准号:
    0306238
  • 财政年份:
    2003
  • 资助金额:
    $ 22.85万
  • 项目类别:
    Continuing Grant

相似国自然基金

面向量产测试的高可靠性CP-PLL可测性方法研究及其电路设计
  • 批准号:
    62004054
  • 批准年份:
    2020
  • 资助金额:
    24 万元
  • 项目类别:
    青年科学基金项目
机载电子系统可测试性设计关键技术研究
  • 批准号:
    U1733119
  • 批准年份:
    2017
  • 资助金额:
    38.0 万元
  • 项目类别:
    联合基金项目
基于延迟特征的三维集成电路硅通孔测试关键技术研究
  • 批准号:
    61704001
  • 批准年份:
    2017
  • 资助金额:
    22.0 万元
  • 项目类别:
    青年科学基金项目
面向TSV的时延故障检测及容错方法研究
  • 批准号:
    61772061
  • 批准年份:
    2017
  • 资助金额:
    61.0 万元
  • 项目类别:
    面上项目
基于片内超速时延测试的小时延缺陷检测方法研究
  • 批准号:
    61402031
  • 批准年份:
    2014
  • 资助金额:
    27.0 万元
  • 项目类别:
    青年科学基金项目

相似海外基金

Design for Testability and Hardware Security
可测试性和硬件安全性设计
  • 批准号:
    RGPIN-2017-04926
  • 财政年份:
    2022
  • 资助金额:
    $ 22.85万
  • 项目类别:
    Discovery Grants Program - Individual
Design for Testability and Hardware Security
可测试性和硬件安全性设计
  • 批准号:
    RGPIN-2017-04926
  • 财政年份:
    2022
  • 资助金额:
    $ 22.85万
  • 项目类别:
    Discovery Grants Program - Individual
Design for Testability and Hardware Security
可测试性和硬件安全性设计
  • 批准号:
    RGPIN-2017-04926
  • 财政年份:
    2021
  • 资助金额:
    $ 22.85万
  • 项目类别:
    Discovery Grants Program - Individual
Design for Testability Methodology for Multi-Input/Output Asynchronous Sequential Elements
多输入/输出异步顺序元件的可测试性方法设计
  • 批准号:
    21K11820
  • 财政年份:
    2021
  • 资助金额:
    $ 22.85万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Design for Testability and Hardware Security
可测试性和硬件安全性设计
  • 批准号:
    RGPIN-2017-04926
  • 财政年份:
    2021
  • 资助金额:
    $ 22.85万
  • 项目类别:
    Discovery Grants Program - Individual
{{ showInfoDetail.title }}

作者:{{ showInfoDetail.author }}

知道了