Fabrication of semipolar {20-2-1} plane GaN substrate grown from the sidewall of patterned sapphire substrate

从图案化蓝宝石衬底侧壁生长的半极性{20-2-1}面GaN衬底的制造

基本信息

  • 批准号:
    25289088
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 11.07万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2013
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2013-04-01 至 2016-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
HVPEによるGaN非極性基板作製
HVPE 制造 GaN 非极性衬底
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    只友一行;岡田成仁;山根啓輔
  • 通讯作者:
    山根啓輔
窒化ガリウム結晶自立基板の製造方法
一种氮化镓晶体自支撑衬底的制作方法
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
HVPEの成長条件が厚膜{20-21}GaNの結晶性に与える影響
HVPE生长条件对厚{20-21}GaN结晶度的影响
  • DOI:
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    橋本健宏;山根啓輔;岡田成仁;只友一行
  • 通讯作者:
    只友一行
Fabrication of freestanding {20-21} GaN substrates by HVPE and LED application
通过 HVPE 和 LED 应用制造独立式 {20-21} GaN 衬底
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    K. Yamane;Y. Hashimoto;N. Okada;K. Tadatomo
  • 通讯作者:
    K. Tadatomo
山口大学 只友研究室
山口大学忠友实验室
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
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Tadatomo Kazuyuki其他文献

Linear dependence of dislocation pattern size on the imprint width and scratch width on (0001) GaN
位错图案尺寸与 (0001) GaN 上的压印宽度和划痕宽度的线性相关性
  • DOI:
    10.1088/1361-6463/ac96fd
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Ishikawa Yukari;Sugawara Yoshihiro;Yao Yongzhao;Takeda Hidetoshi;Aida Hideo;Tadatomo Kazuyuki
  • 通讯作者:
    Tadatomo Kazuyuki
Identification of fine structures at the surface of epi-ready GaN wafer observed by confocal differential interference contrast microscopy
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  • DOI:
    10.35848/1347-4065/abbb23
  • 发表时间:
    2020
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Ishikawa Yukari;Sugawara Yoshihiro;Sato Koji;Yao Yongzhao;Okada Narihito;Tadatomo Kazuyuki
  • 通讯作者:
    Tadatomo Kazuyuki
Generation of dislocations from scratches on GaN formed during wafer fabrication and dislocation reactions during homoepitaxial growth
晶圆制造过程中形成的 GaN 划痕和同质外延生长过程中的位错反应产生位错
  • DOI:
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  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Ishikawa Yukari;Sugawara Yoshihiro;Yao Yongzhao;Noguchi Naoto;Takeda Yukihisa;Yamada Hisashi;Shimizu Mitsuaki;Tadatomo Kazuyuki
  • 通讯作者:
    Tadatomo Kazuyuki
Surface plasmon enhanced emissions from semipolar InGaN/GaN quantum wells
半极性 InGaN/GaN 量子阱的表面等离子体增强发射
  • DOI:
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Jun Kametani;Toshiki Nakamura;Fumiya Murao;Tetsuya Matsuyama;Kenji Wada;Okada Narihito;Tadatomo Kazuyuki;Koichi Okamoto
  • 通讯作者:
    Koichi Okamoto
Anisotropic radius of curvature of crystal planes in wide-bandgap semiconductor wafers measured by X-ray diffraction
X射线衍射测量宽带隙半导体晶片晶面各向异性曲率半径
  • DOI:
    10.35848/1347-4065/ac3a20
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    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Yao Yongzhao;Sugawara Yoshihiro;Yokoe Daisaku;Hirano Keiichi;Okada Narihito;Tadatomo Kazuyuki;Sasaki Kohei;Kuramata Akito;Ishikawa Yukari
  • 通讯作者:
    Ishikawa Yukari

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