Control of interfacial nanostructure between wide-gap semiconductors and their electrodes

宽禁带半导体与其电极之间界面纳米结构的控制

基本信息

  • 批准号:
    26420702
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 3.08万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2014
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2014-04-01 至 2017-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

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Effect of Ti3SiC2 formation on p-type GaN by vacuum annealing on the contact properties
真空退火在 p 型 GaN 上形成 Ti3SiC2 对接触性能的影响
  • DOI:
    10.1088/1757-899x/61/1/012034
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Aiman b. M. H.;M. Maeda and Y. Takahashi
  • 通讯作者:
    M. Maeda and Y. Takahashi
Ni nano level thin film formation on p-GaN and improvement of electrical properties by hydrogen release enhancement
p-GaN 上 Ni 纳米级薄膜的形成以及通过增强氢释放来改善电性能
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Aiman b. M. H.;K. Tsuchida;M. Maeda and Y. Takahashi
  • 通讯作者:
    M. Maeda and Y. Takahashi
Effect of crystal orientation on ohmic contact formation for n-type gallium nitride
晶体取向对n型氮化镓欧姆接触形成的影响
  • DOI:
    10.1088/1757-899x/61/1/012033
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    K. Kimura;Aiman b. M. H.;M. Maeda and Y. Takahashi
  • 通讯作者:
    M. Maeda and Y. Takahashi
Nucleation and growth of Ti3SiC2 on SiC by interfacial reaction
Nickel-titanium-based contact for n-type silicon carbide to combine high ohmic conductivity and mechanical properties
用于 n 型碳化硅的镍钛基触点,结合了高欧姆电导率和机械性能
  • DOI:
    10.1088/1757-899x/61/1/012031
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    M. Maeda;M. Sano and Y. Takahashi
  • 通讯作者:
    M. Sano and Y. Takahashi
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