Studies on surface reaction process and thin film formation by controlling radicals

自由基控制表面反应过程及薄膜形成研究

基本信息

  • 批准号:
    08405005
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 21.95万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
  • 财政年份:
    1996
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    1996 至 1998
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

In this project, firstly we investigated systematically the correlation between the crystallinity of the deposited films and the information of gas phase in ECR plasma using silane / hydrogen mixture gases. As a result, we found that the reduction of ion flux contributed to the improvement of the crystallinity. On the basis of this result, we developed a novel method for depositing films without ionic species, namely, only neutral species using permanent magnets. Using this method, we have successfully synthesized the polycrystalline films with high crystallinty and smooth surfase. However, the deposition rate was reduced to be a tenth of that using the conventional method. To solve this problem, we have tried a novel two step growth method. In the method, ionic species were removed at the initial growth stage by using permanent magnets. After this step, the permanent magnets were removed from the plasma, the films were deposited by using the conventional ECR silane/hydrogen plasma., n … More amely including ionic and neutral species. As a result, we have successfully synthesized the films with high crystallinity, smooth surface and relatively high deposition rate. Moreover, we have found that ionic species disturb the nucleation of the crystalline phase especially.In a diamond formation process, we have clarified the role of radicals from the correlation between the film quality and the behaviors of the radicals using vacuum ultraviolet absorption spectroscopy and optical emission spectroscopy. As a result, carbon atom contributes to the formation of non-diamond phase while OH radical promotes the abstraction reaction of hydrogen atom terminating the diamond surface.In this project from 1996 to 1998, we have successfully obtained important findings by elucidating the roles in the polycrystalline silicon and diamond film formation processes. Moreover, on the basis of the findings, we have successfully developed the methods promising to obtain the films with further better quality by controlling the radicals. Less
在这个项目中,首先,我们使用硅烷 /氢混合物气体系统地研究了沉积膜结晶度与ECR血浆中气相的信息之间的相关性。结果,我们发现离子通量的减少有助于改善结晶度。在此结果的基础上,我们开发了一种新的方法来沉积没有离子物种的膜,即仅使用永久磁铁的中性物种。使用这种方法,我们成功地合成了具有高结晶和光滑表面的多晶膜。但是,使用常规方法将沉积率降低为十分之一。为了解决这个问题,我们尝试了一种新颖的两步增长方法。在该方法中,使用永久磁铁在初始生长阶段去除离子物种。在此步骤之后,将永久磁体从等离子体中取出,使用常规的ECR硅烷/氢等离子体。,N…更多,包括离子和中性物种。结果,我们成功地合成了高结晶度,光滑表面和相对较高的沉积速率的膜。此外,我们发现离子物种特别扰乱了晶体相的成核。在钻石形成过程中,我们通过使用真空紫外线抽象的光谱和光学发射光谱法阐明了从膜质量与自由基行为之间的相关性来阐明自由基的作用。结果,碳原子有助于形成非二叉子岩相,而OH激素促进了终止钻石表面的氢原子的抽象反应。在1996年至1998年的该项目中,我们通过阐明了在多晶硅和钻石膜形成过程中的作用,成功地获得了重要发现。此外,根据调查结果,我们成功地开发了有望通过控制激进分子以更高质量获得薄膜的方法。较少的

项目成果

期刊论文数量(35)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
R.Nozawa et.al: "Substrate DC bias effects on low temperature polycrystalline silicon formation in electron cyclotron resonance plasma-enhanced chemical vapor deposition" J. Appl. Phys.79・6. 8035-8039 (1997)
R. Nozawa 等人:“电子回旋共振等离子体增强化学气相沉积中的基板直流偏压对低温多晶硅形成的影响”J. Appl.79・6(1997)。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Y.Yamamoto et.al: "Effects of dilution gases on Si atom and SiHx^+(x=0-3)ions in electron cyclotron resonance SiH4 plasma" Jpn. J. Appl. Phys.36・7B. 4664-4669 (1997)
Y. Yamamoto 等人:“稀释气体对电子回旋共振 SiH4 等离子体中 Si 原子和 SiHx^+(x=0-3) 离子的影响”Jpn. J. Phys. 4664-4669 ( 1997)
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
R.Nozawa et.al.: "In-Situ PM-IR-RAS Observation of ECR Hydrogen Plasma Annealing Process" 平成9年度電気学会総合研究会プラズマ研究会予稿集. 61-66 (1997)
R. Nozawa等:《ECR氢等离子体退火过程的In-Situ PM-IR-RAS观察》1997年日本电气工程师学会等离子体研究组论文集61-66(1997)。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Y.Yamamoto et.al.: "Effect of dilution gases on Si atom and SiHx^+(x=0-3)in ECR SiH_4 plasma" Proc.of 3rd int.conf.reactive plasmas. 449-450 (1996)
Y.Yamamoto 等人:“稀释气体对 ECR SiH_4 等离子体中 Si 原子和 SiHx^ (x=0-3) 的影响”Proc.of 3rd int.conf.reactive Plasmas。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
R.Nozawa et.al.: "In situ Obserbation of Hydrogenated Amorphous Silicon Surface during Electron Cyclotron Resonance Hydrogen Plasma Annealing Using Polarization Modulation Infrared Reflection Absorption Spectroscopy" Proc.of 44rd National Symposium of Ame
R.Nozawa 等:“使用偏振调制红外反射吸收光谱法在电子回旋共振氢等离子体退火过程中对氢化非晶硅表面进行原位观察”第 44 届美国全国研讨会论文集
  • DOI:
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