Studies on instruction-level self-degradation detection mechanism and automated test program generation for processors

处理器指令级自退化检测机制及自动化测试程序生成研究

基本信息

  • 批准号:
    23K11035
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 3.08万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2023
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2023-04-01 至 2026-03-31
  • 项目状态:
    未结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)

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大竹 哲史其他文献

HPC インターコネクトのためのランダムトポロジ
HPC 互连的随机拓扑
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    森保 孝憲;大竹 哲史;鯉渕 道紘
  • 通讯作者:
    鯉渕 道紘
機械学習を用いたフェールチップ判別における適用識別器と判別確度の決定法
使用机器学习确定失效芯片判别准确度的适用分类器和方法
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    柚留木 大地;大竹 哲史;中村 芳行
  • 通讯作者:
    中村 芳行
制約付きテスト生成を用いたスキャンBIST のLFSR シード生成法
使用约束测试生成扫描 BIST LFSR 种子生成方法
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    森保 孝憲;大竹 哲史
  • 通讯作者:
    大竹 哲史
FPGAにおける細粒度動的部分再構成機構の実装とその電力評価
细粒度动态部分重配置机制在FPGA上的实现及其功耗评估
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    森保 孝憲;大竹 哲史;鯉渕 道紘;上田晋寛,河本尚輝,土肥慶亮,柴田裕一郎,小栗 清
  • 通讯作者:
    上田晋寛,河本尚輝,土肥慶亮,柴田裕一郎,小栗 清

大竹 哲史的其他文献

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  • 通讯作者:
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Studies on Reliability Enhancement of Reconfigurable Integrated Circuits in the IoT Era
物联网时代可重构集成电路可靠性增强研究
  • 批准号:
    18K11220
  • 财政年份:
    2018
  • 资助金额:
    $ 3.08万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究
大规模高性能VLSI寄存器传输级可测试性设计研究
  • 批准号:
    17700062
  • 财政年份:
    2005
  • 资助金额:
    $ 3.08万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
大規模・高性能VLSIの遅延故障に対するテスト容易化設計に関する研究
大规模、高性能VLSI延迟故障的可测性设计研究
  • 批准号:
    12780226
  • 财政年份:
    2000
  • 资助金额:
    $ 3.08万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
テスト容易性を考慮した高位合成に関する研究
考虑可测试性的高级综合研究
  • 批准号:
    98J08598
  • 财政年份:
    1998
  • 资助金额:
    $ 3.08万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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