プラズマ援用研磨プロセスによる単結晶GaN基板の高能率無歪加工

等离子体辅助抛光工艺高效无应变加工单晶GaN衬底

基本信息

  • 批准号:
    22K20410
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.83万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Research Activity Start-up
  • 财政年份:
    2022
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2022-08-31 至 2024-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

大面積のGaN基板のプラズマ援用研磨(Plasma-assisted polishing: PAP)においては、プラズマ改質レートを向上するために、プラズマ照射面積を増加するのは一番効率的な方法である。大気圧プラズマより、減圧下でのプラズマは不安定なアーク放電に移行しにくくなり、大面積かつ安定なグロー放電状態を維持しやすい。したがって、今年度は、プラズマ改質レートを増加するため、大気圧PAPの代わりに、減圧PAP装置を立ち上げた。真空チャンバーの圧力及び平板電極とGaNウエハ間の距離の最適化により、減圧下でも安定なグロー放電CF4プラズマが発生でき、2inchのGaNウエハの全面照射が実現できた。X線光電子分光(XPS)によるCF4プラズマ照射前後のGaN基板表面の化学結合状態を分析した。その結果、減圧CF4プラズマ照射によりGaNウエハ全面的にGaF3改質層が形成したことがわかった。次に、改質されたGaNウエハに対して、軟質なCeO2ビトリファイドボンド砥石を用いて研磨実験を行ったところ、GaF3改質層を完全に除去できることも確認できた。
在大面积GAN底物的等离子辅助抛光(PAP)中,它是增加血浆辐照面积以提高血浆修饰速率的最有效方法。从大气压力等离子体中,血浆在减压下的血浆使得难以迁移到不稳定的弧排放,从而更容易保持大面积和稳定的发光排放状态。因此,今年推出了一个减压PAP装置,而不是大气压力PAP,以提高血浆修饰速率。通过优化真空室的压力以及平坦电极和gan晶圆之间的距离,即使在降压下,也会产生稳定的发光排放CF4等离子体,并实现了2英寸GAN晶圆的完整表面照射。分析了通过X射线光学电子光谱(XPS)在CF4血浆辐照之前和之后GAN底物表面的化学键状态。结果,发现gan waeha完全由Dewmancression CF4血浆照射形成。接下来,使用软CEO2 Vitrafide Bond键晶石对改良的GAN晶片进行了抛光实验,并确认可以完全去除GAF3修饰层。

项目成果

期刊论文数量(2)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Optimization of modification conditions used in plasma assisted polishing for improving the material removal rate of Gallium nitride
等离子体辅助抛光改性条件优化提高氮化镓材料去除率
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    T. Tao;R. Sun;K. Arima;K. Kawai;K. Yamamura
  • 通讯作者:
    K. Yamamura
固定砥粒を用いたGaNウエハの高能率一貫加工プロセスの構築-ラップ加工で導入された加工変質層のプラズマ表面改質-
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  • DOI:
  • 发表时间:
    2023
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Kazuya Z. Suzuki;Shigemi Mizukami;大西雄也,北出隼人,陶通,永橋潤司,孫栄硯,有馬健太,山村和也
  • 通讯作者:
    大西雄也,北出隼人,陶通,永橋潤司,孫栄硯,有馬健太,山村和也
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