Developing three-dimensional measurement method for nano- and atomistic structures using focal series of aberration-corrected transmission electron microscopy images

使用像差校正透射电子显微镜图像的焦点系列开发纳米和原子结构的三维测量方法

基本信息

  • 批准号：
    16K13688
  • 负责人：
    Yamasaki Jun
  • 金额：
    $ 2.41万
  • 依托单位：
    Osaka University
  • 依托单位国家：
    日本
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
  • 财政年份：
    2016
  • 资助国家：
    日本
  • 起止时间：
    2016-04-01 至 2018-03-31
  • 项目状态：
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（2）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
Precise measure of the depth resolution in aberration-corrected TEM
像差校正 TEM 中深度分辨率的精确测量
  • DOI：
  • 发表时间：
    2017
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    Jun Yamasaki;Koh Saitoh;and Nobuo Tanaka
  • 通讯作者：
    and Nobuo Tanaka
結像系収差補正電子顕微鏡（収差補正TEM）を駆使した微細構造解析手法の進展
充分利用像差校正电子显微镜（像差校正TEM）的微观结构分析方法的进展
  • DOI：
  • 发表时间：
    2017
  • 期刊：
    触媒
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    奥山裕磨;杉山裕弥;平原徹;山﨑 順
  • 通讯作者：
    山﨑 順
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  • 通讯作者：
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  • 期刊：
  • 影响因子：
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  • 通讯作者：
    西久保 英郎，佐々木 宏和，村田 拓哉，米光 誠， 兒島 洋一，荒井 重勇，山本 剛久，山﨑 順
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  • 通讯作者：
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  • DOI：
  • 发表时间：
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  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    Yamaguchi Sho;Fujita Shu;Nakajima Kiyotaka;Yamazoe Seiji;Yamasaki Jun;Mizugaki Tomoo;Mitsudome Takato;大山順也
  • 通讯作者：
    大山順也
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TEM图像随厚度增加的强度衰减及其对层析成像的影响
  • DOI：
    10.11410/kenbikyo.54.3_149
  • 发表时间：
    2019
  • 期刊：
    KENBIKYO
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    Tanaka Nobuo;Fujita Takeshi;Takahashi Yoshimasa;Yamasaki Jun;Murata Kazuyoshi;Arai Shigeo;山﨑 順
  • 通讯作者：
    山﨑 順

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  • 作者：
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  • 通讯作者：
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    26600042
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    2014
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    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
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    $ 2.41万
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    2024
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    $ 2.41万
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减轻远程身份验证 (MIMER) 中的演示攻击：巴基斯坦焦点
  • 批准号：
    EP/Y002288/1
  • 财政年份：
    2024
  • 资助金额：
    $ 2.41万
  • 项目类别：
    Research Grant
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作者：{{ showInfoDetail.author }}

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