Development of electron diffractive imaging for phase observations from the atomic level to micron scale

开发用于从原子级到微米级相位观测的电子衍射成像

基本信息

批准号：
26286049
负责人：
Yamasaki Jun
金额：
$ 10.23万
依托单位：
Osaka University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2014
资助国家：
日本
起止时间：
2014-04-01 至 2017-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（0）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Electron Diffractive Imaging of Crystalline Structures and Electric Fields of Nano Materials

纳米材料晶体结构和电场的电子衍射成像

DOI：
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
0
作者：
笹島浩希;小森大資;竹内哲也;岩谷素顕;上山智;赤崎勇;Jun Yamasaki
通讯作者：
Jun Yamasaki

Developing Quantitative Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging

通过电子衍射成像开发定量相位成像

DOI：
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
0
作者：
Jun Yamasaki;Yuki Shimaoka;and Hirokazu Sasaki
通讯作者：
and Hirokazu Sasaki

収差補正TEM像における高さ分解能と三次元ナノ構造情報の検出

像差校正 TEM 图像中的高度分辨率和三维纳米结构信息检测

DOI：
发表时间：
2014
期刊：
顕微鏡
影响因子：
0
作者：
大本優;竹田翔一;森吉千佳子;黒岩芳弘;大沢仁志;杉本邦久;北中佑樹;野口祐二;宮山勝;山崎　順
通讯作者：
山崎　順

電子線小角散乱を用いた回折位相イメージングの高精度化

利用小角电子散射提高衍射相位成像的精度

DOI：
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
0
作者：
島岡勇記;山﨑順
通讯作者：
山﨑順

各種電子顕微鏡法による半導体中の電位分布解析

使用各种电子显微镜方法分析半导体中的电势分布

DOI：
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
0
作者：
佐々木宏和;大友晋哉;山本和生;平山司;山﨑順;柴田直哉
通讯作者：
柴田直哉

DOI：
{{ item.doi }}
发表时间：
{{ item.publish_year }}
期刊：
{{ item.journal_name }}
影响因子：
{{ item.factor }}
作者：
{{ item.authors }}
通讯作者：
{{ item.author }}

数据更新时间：{{ journalArticles.updateTime }}

作者：
{{ item.author }}

数据更新时间：{{ monograph.updateTime }}

作者：
{{ item.author }}

数据更新时间：{{ sciAawards.updateTime }}

作者：
{{ item.author }}

数据更新时间：{{ conferencePapers.updateTime }}

作者：
{{ item.author }}

数据更新时间：{{ patent.updateTime }}

Yamasaki Jun其他文献

超高圧STEM像強度解析を活用したAl製磁気ディスク基板中のめっき欠陥の立体解像

使用超高压 STEM 图像强度分析对铝磁盘基板中的电镀缺陷进行三维分辨率

DOI：
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
0
作者：
Tanaka Nobuo;Fujita Takeshi;Takahashi Yoshimasa;Yamasaki Jun;Murata Kazuyoshi;Arai Shigeo;山﨑順;山﨑順，林田美咲，Malac Marek;西久保英郎，佐々木宏和，村田拓哉，米光誠，兒島洋一，荒井重勇，山本剛久，山﨑順
通讯作者：
西久保英郎，佐々木宏和，村田拓哉，米光誠，兒島洋一，荒井重勇，山本剛久，山﨑順

Progress in environmental high-voltage transmission electron microscopy for nanomaterials

纳米材料环境高压透射电镜研究进展

DOI：
10.1098/rsta.2019.0602
发表时间：
2020
期刊：
Philosophical Transactions of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences
影响因子：
0
作者：
Tanaka Nobuo;Fujita Takeshi;Takahashi Yoshimasa;Yamasaki Jun;Murata Kazuyoshi;Arai Shigeo
通讯作者：
Arai Shigeo

Quasi-static 3D structure of graphene ripple measured using aberration-corrected TEM

使用像差校正 TEM 测量石墨烯波纹的准静态 3D 结构

DOI：
10.1039/d1nr00237f
发表时间：
2021
期刊：
Nanoscale
影响因子：
6.7
作者：
Segawa Yuhiro;Yamazaki Kenji;Yamasaki Jun;Gohara Kazutoshi
通讯作者：
Gohara Kazutoshi

原子スケールでみる金属ナノ粒子触媒の構造効果

金属纳米粒子催化剂在原子尺度上的结构效应

DOI：
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
0
作者：
Yamaguchi Sho;Fujita Shu;Nakajima Kiyotaka;Yamazoe Seiji;Yamasaki Jun;Mizugaki Tomoo;Mitsudome Takato;大山順也
通讯作者：
大山順也

Intensity Attenuation in TEM Images with Increasing Thickness and Its Influence on Tomography

TEM图像随厚度增加的强度衰减及其对层析成像的影响

DOI：
10.11410/kenbikyo.54.3_149
发表时间：
2019
期刊：
KENBIKYO
影响因子：
0
作者：
Tanaka Nobuo;Fujita Takeshi;Takahashi Yoshimasa;Yamasaki Jun;Murata Kazuyoshi;Arai Shigeo;山﨑順
通讯作者：
山﨑順