Zweistrahl-Rastermikroskop mit Elektronen- und Ionenstrahl

带电子束和离子束的双光束扫描显微镜

基本信息

批准号：
215374590
负责人：
金额：
--
依托单位：
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
依托单位国家：
德国
项目类别：
Major Research Instrumentation
财政年份：
2012
资助国家：
德国
起止时间：
2011-12-31 至无数据
项目状态：
未结题

来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/215374590?language=en
关键词：
Zweistrahl Rastermikroskop mit Elektronen und

项目摘要

„Die Kombination aus Rasterionen- und Rasterelektronenmikroskopie stellt eine Schlüsseltechnologie der Materialforschung dar. Sie ermöglicht eine hoch ortsaufgelöste Analyse des strukturellen Aufbaus von Werkstoffen und Bauteilen. Der Einsatz dieses Mikroskops ist für zahlreiche Forschungsarbeiten des Instituts und seiner Kooperationspartner von größter Bedeutung. Im Zentrum steht dabei die Untersuchung der mikrostrukturellen Veränderungen als Folge tribologischer Belastung und deren mechanismenbasierte Modellierung. Im Rahmen dieser Arbeiten ist es notwendig die Proben nicht nur an der Oberfläche sondern auch in oberflächennahen Bereichen dreidimensional hinsichtlich Kornorientierung (3D EBSD) und chemischer Zusammensetzung (3D EDS) zu analysieren. Artefaktfreie und reproduzierbare Ergebnisse lassen sich nur erzielen, wenn das Mikroskop durch forschende Wissenschaftler betreut wird, die Zugriff auf und Kontrolle aller Verfahrensschritte haben. Um die Methode effizient in Forschungsvorhaben einbinden zu können, wird hohe Verfügbarkeit und permanenter Zugriff benötigt. Darüber hinaus ist es notwendig, Um- und Anbauten vornehmen zu können, die für die Analyse spezieller Probengeometrien notwendig sind, und nur an einem eigenen, permanent verfügbaren Gerät realisiert werden können.“

“Rasterionen- 和 Rasterelektronenmikroskopie 组合是 Materialforschung dar 的 Schlüsseltechnologie。 Im Zentrum steht dabei die Untersuchung der mikrostrukturellen Veränderungen als Folge tribologischer Belastung and deren machineenbasierte Modellierung Im Rahmen dieser Arbeiten is notwendig die Proben.自由艺术品和复制品 Ergebnisse lassen sich nur erzielen, wenn das Mikroskop为确保科学工作的顺利开展，Zugriff auf 和Kontrolle aller Verfahrensschritte haben。 “Bauten vornehmen zu können，die für die 分析特殊的 Probengeometrien notwendig sind，并且 nur an einem eigenen，permanent verfügbaren Gerät realisiert werden können。”

项目成果

期刊论文数量（9）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Origins of Folding Instabilities on Polycrystalline Metal Surfaces

多晶金属表面折叠不稳定性的起源

DOI：
10.1103/physrevapplied.2.064004
发表时间：
2014-12-04
期刊：
Physical review applied
影响因子：
4.6
作者：
N. Beckmann;P. Romero;D. Linsler;M. Dienwiebel;U. Stolz;M. Moseler;P. Gumbsch
通讯作者：
P. Gumbsch

Influence of subsurface microstructure on the running-in of an AlSi alloy

亚表面显微组织对AlSi合金跑合的影响