Erstmaliger Einsatz und Optimierung von Halbleiter-Pixeldetektoren zum Nachweis extrem seltener Kernzerfälle insbesondere des doppelten Elektroneneinfangs von 58Ni

首次使用和优化半导体像素探测器来探测极其罕见的核衰变，特别是 58Ni 的双电子捕获

• 批准号: 193588983
• 负责人: Privatdozent Dr. Thilo Michel
• 金额: --
• 依托单位: Erlangen Centre for Astroparticle Physics (ECAP)
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 2011
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2010-12-31 至 2016-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/193588983?language=en
• 关键词: Erstmaliger; Einsatz; und; Optimierung; von

Der doppelte Betazerfall gehört mit Halbwertszeiten im Bereich von 1020 Jahren und mehr zu den seltensten Zerfällen, die je untersucht wurden. Von besonderem Interesse ist der neutrinolose doppelte Betazerfall, der im Standardmodell der Teilchenphysik nicht erlaubt ist. Er ist nur möglich, wenn Neutrinos ihre eigenen Antiteilchen sind und eine nichtverschwindende Ruhemasse besitzen. Ein alternativer Kanal neben dem Kernzerfall unter Emission von 2 Elektronen oder Positronen ist der doppelte Elektroneneinfang (EC/EC), der selbst in der Form mit Emission von zwei Neutrinos noch nie im Labor nachgewiesen wurde. In diesem Vorhaben soll ein neuartiges Experiment mit Halbleiter-Pixeldetektoren für den Nachweis des EC/EC-Zerfalls von 58Ni konzipiert und ein verkleinerter Prototyp in Untergrundlaboren getestet werden. Die Pixeldetektoren sollen die beiden Röntgenphotonen, welche nach dem EC/EC-Zerfall in einer Nickeldolie emittiert werden, in unterschiedlichen Pixeln koinzident nachweisen. Germaniumdetektoren erlauben zudem die Beobachtung von Übergängen in angeregte Zustände. Untersuchungen des Untergrunds sowie die Untergrundreduktion haben höchste Bedeutung.

Der doppelte Betazerfall gehört mit Halbwertszeiten im Bereich von 1020 Jahren und mehr zu den seltensten Zerfällen, die je untersucht wurden.是。二次中微子的发射是在劳动中产生的。锗检测器是在未来的环境中使用的。 Untersuchungen des Untergrunds sowie die Untergrundreduktion haben höchste Bedeutung。

项目成果

Measurement of the double K-shell vacancy creation probability in the electron-capture decay of 55 Fe with active-pixel detectors

使用有源像素探测器测量 55 Fe 电子捕获衰变中双 K 壳空位产生概率

• DOI: 10.1103/physrevc.89.014609
• 发表时间: 2014
• 期刊: Physical Review C
• 影响因子: 3.1
• 作者: T. Michel;B. Bergmann;J. Durst;M. Filipenko;T. Gleixner;K. Zuber
• 通讯作者: K. Zuber