High efficiency STEM phase imaging using two dimensional detector

使用二维探测器进行高效 STEM 相位成像

基本信息

  • 批准号:
    17H02784
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 11.48万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2017
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2017-04-01 至 2020-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

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专利数量(0)
位相差透過電子顕微鏡法におけるhole-free位相板のポテンシャル制御
相衬透射电子显微镜中无孔相位板的电位控制
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    箕田弘喜;山田洋輔
  • 通讯作者:
    山田洋輔
Phase plate STEM imaging using two dimensional electron detector
使用二维电子探测器进行相位板 STEM 成像
  • DOI:
    10.1017/s1431927619001156
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    2.8
  • 作者:
    Misaki Tsubouchi;Hiroki Minoda
  • 通讯作者:
    Hiroki Minoda
位相差電子顕微鏡法における位相板デザインの検討
相衬电子显微镜相位板设计研究
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    箕田弘喜; 大森祐哉; 柚木宏太
  • 通讯作者:
    柚木宏太
TEMとSTEMの基礎
TEM 和 STEM 基础知识
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    箕田弘喜
  • 通讯作者:
    箕田弘喜
位相差走査型透過電子顕微鏡法によるコントラスト増強
使用相差扫描透射电子显微镜增强对比度
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    箕田弘喜;大森裕哉
  • 通讯作者:
    大森裕哉
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Minoda Hiroki其他文献

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    2020
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    $ 11.48万
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  • 资助金额:
    $ 11.48万
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    Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
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