Development of an extreme environment resistive CCD using silicon carbide
使用碳化硅开发极端环境电阻式CCD
基本信息
- 批准号:15H03967
- 负责人:
- 金额:$ 10.57万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2015
- 资助国家:日本
- 起止时间:2015-04-01 至 2019-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
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会议论文数量(0)
专利数量(0)
Improvement of radiation response of SiC MOSFETs under high temperature and humidity circumstance
高温高湿环境下SiC MOSFET辐射响应的改善
- DOI:10.7567/jjap.55.104101
- 发表时间:2016
- 期刊:
- 影响因子:1.5
- 作者:Akinori Takeyama; Takuma Matsuda; Takashi Yokoseki; Satoshi Mitomo; Koichi Murata; Takahiro Makino; Shinobu Onoda; Shuichi Okubo; Yuki Tanaka; Mikio K;ori; Toru Yoshie; Yasuto Hijikata; Takeshi Ohshima
- 通讯作者:Takeshi Ohshima
同位体酸素を用いたSiC表面に形成される単一光子源の構造推定
使用同位素氧在 SiC 表面形成的单光子源的结构估计
- DOI:
- 发表时间:2019
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:土方 泰斗;松下 雄一郎;大島 武
- 通讯作者:大島 武
プロトンビーム描画により形成されたSiC pnダイオード中シリコン空孔のODMR測定
质子束光刻形成的 SiC pn 二极管中硅空位的 ODMR 测量
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:千葉 陽史;山﨑 雄一;牧野 高絋;佐藤 真一郎;山田 尚人;佐藤 隆博;児島 一聡;土方 泰斗;大島 武
- 通讯作者:大島 武
負ゲートバイアス印加によるSiC MOSFETのガンマ線照射劣化挙動
由于施加负栅极偏压而导致的 SiC MOSFET 的伽马射线辐照劣化行为
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:武山 昭憲;松田 拓磨;三友 啓;村田 航一;牧野 高紘;小野田 忍;大久保 秀一;田中 雄季;神取 幹郎;吉江 徹;土方 泰斗;大島 武
- 通讯作者:大島 武
4H-SiCエピ層中の積層欠陥近傍における単一光子源の発光効率向上
提高4H-SiC外延层堆垛层错附近单光子源的发光效率
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:赤堀周平;古川頼誉;松下雄一郎;大島武;土方泰斗
- 通讯作者:土方泰斗
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