Development of an extreme environment resistive CCD using silicon carbide

使用碳化硅开发极端环境电阻式CCD

基本信息

  • 批准号:
    15H03967
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 10.57万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2015
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2015-04-01 至 2019-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

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专利数量(0)
Improvement of radiation response of SiC MOSFETs under high temperature and humidity circumstance
高温高湿环境下SiC MOSFET辐射响应的改善
  • DOI:
    10.7567/jjap.55.104101
  • 发表时间:
    2016
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Akinori Takeyama; Takuma Matsuda; Takashi Yokoseki; Satoshi Mitomo; Koichi Murata; Takahiro Makino; Shinobu Onoda; Shuichi Okubo; Yuki Tanaka; Mikio K;ori; Toru Yoshie; Yasuto Hijikata; Takeshi Ohshima
  • 通讯作者:
    Takeshi Ohshima
同位体酸素を用いたSiC表面に形成される単一光子源の構造推定
使用同位素氧在 SiC 表面形成的单光子源的结构估计
  • DOI:
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    土方 泰斗;松下 雄一郎;大島 武
  • 通讯作者:
    大島 武
プロトンビーム描画により形成されたSiC pnダイオード中シリコン空孔のODMR測定
质子束光刻形成的 SiC pn 二极管中硅空位的 ODMR 测量
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    千葉 陽史;山﨑 雄一;牧野 高絋;佐藤 真一郎;山田 尚人;佐藤 隆博;児島 一聡;土方 泰斗;大島 武
  • 通讯作者:
    大島 武
負ゲートバイアス印加によるSiC MOSFETのガンマ線照射劣化挙動
由于施加负栅极偏压而导致的 SiC MOSFET 的伽马射线辐照劣化行为
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    武山 昭憲;松田 拓磨;三友 啓;村田 航一;牧野 高紘;小野田 忍;大久保 秀一;田中 雄季;神取 幹郎;吉江 徹;土方 泰斗;大島 武
  • 通讯作者:
    大島 武
4H-SiCエピ層中の積層欠陥近傍における単一光子源の発光効率向上
提高4H-SiC外延层堆垛层错附近单光子源的发光效率
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    赤堀周平;古川頼誉;松下雄一郎;大島武;土方泰斗
  • 通讯作者:
    土方泰斗
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    $ 10.57万
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    2021
  • 资助金额:
    $ 10.57万
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