Plasma-Induced Formation of Nanoscale Ripple Structures on Surfaces

等离子体诱导表面纳米级波纹结构的形成

基本信息

  • 批准号:
    15H03582
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 11.15万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2015
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2015-04-01 至 2018-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

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会议论文数量(0)
专利数量(0)
Origin of plasma-induced surface roughening and ripple formation during plasma etching
等离子蚀刻过程中等离子引起的表面粗糙和波纹形成的根源
  • DOI:
  • 发表时间:
    2016
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    K. Ono;N. Nakazaki;H. Tsuda;Y. Takao;and K. Eriguchi
  • 通讯作者:
    and K. Eriguchi
Surface rippling by oblique ion incidence during plasma etching of silicon: Experimental demonstration using sheath control plates
硅等离子蚀刻期间倾斜离子入射引起的表面波纹:使用鞘控制板的实验演示
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Nobuya Nakazaki;Haruka Matsumoto;Koji Eriguchi;and Kouichi Ono
  • 通讯作者:
    and Kouichi Ono
Plasma-surface interactions for top-down and bottom-up nanofabrication
自上而下和自下而上纳米加工的等离子体表面相互作用
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    北野勝久;井川聡;中島陽一;谷篤史;K. Ono
  • 通讯作者:
    K. Ono
Molecular dynamics simulations of Si etching in Cl- and Br-based plasmas: Cl+ and Br+ ion incidence in the presence of Cl and Br neutrals
  • DOI:
    10.1063/1.4937449
  • 发表时间:
    2015-12-21
  • 期刊:
  • 影响因子:
    3.2
  • 作者:
    Nakazaki, Nobuya;Takao, Yoshinori;Ono, Kouichi
  • 通讯作者:
    Ono, Kouichi
プラズマ・固体表面界面反応制御-表面ラフネスとリップルの形成機構と制御-
等离子体/固体表面界面反应控制-表面粗糙度和波纹的形成机理及控制-
  • DOI:
  • 发表时间:
    2015
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    沖野友哉;鍋川康夫;緑川克美;斧 高一
  • 通讯作者:
    斧 高一
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    $ 11.15万
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