Studies on Normal-Operation-Aware Accurate Delay Fault Testing for VLSIs

VLSI 正常运行感知的精确延迟故障测试研究

基本信息

批准号：
22700054
负责人：
OHTAKE Satoshi
金额：
$ 2.5万
依托单位：
Oita University (2011-2013)Nara Institute of Science and Technology (2010)
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2010
资助国家：
日本
起止时间：
2010-04-01 至 2014-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

Since our life is dependent on computer systems, reliability of the computers is essential. To create reliable systems, very large scale integration circuits (VLSIs), which are the main components of the systems, need to be tested and the test quality must be improved considering their operating environment. Under this grant, for supporting normal-operation-aware testing, a method of test pattern and response delivery using normal operation, a method of thermal-uniformity-aware built-in self-test (BIST), a method of linear feedback shift register (LFSR) seed generation for high quality pseudo-random BIST, and a framework of constrained test generation to generate test and diagnosis patterns with desired properties have been developed.

由于我们的生活取决于计算机系统，因此计算机的可靠性至关重要。为了创建可靠的系统，是系统的主要组成部分，需要测试非常大的集成电路（VLSIS），考虑其操作环境，必须提高测试质量。在这项赠款的下，用于支持正常操作 - 感知测试，一种使用正常操作的测试模式和响应交付方法，一种热均匀度感知的内置自我测试（BIST），一种线性反馈转移寄存器（LFSR）生成的方法，用于高质量的伪兰德骑士，以及开发了测试模式的框架，以产生测试模式。

项目成果

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专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

F-scan test generation model for delay fault testing at RTL using standard full scan ATPG

使用标准全扫描 ATPG 在 RTL 进行延迟故障测试的 F 扫描测试生成模型

DOI：
10.1109/ets.2011.61
发表时间：
2011
期刊：
Proceedings of IEEE European Test Symposium
影响因子：
0
作者：
Marie Engelene Jimenez Obien;Satoshi Ohtake and Hideo Fujiwara
通讯作者：
Satoshi Ohtake and Hideo Fujiwara

A method of LFSR seed generation for scan -based BIST using constrained ATPG

一种使用约束 ATPG 的基于扫描的 BIST 的 LFSR 种子生成方法

DOI：
10.1109/cisis.2013.136
发表时间：
2013
期刊：
Proceedings of 2013 Seventh International Conference on Complex, Intelligent, an d Software Intensive Systems
影响因子：
0
作者：
Susumu Kariyuki;Atsuto Kubo;Hironori Washizaki and Yoshiaki Fukazawa;Takanori Moriyasu and Satoshi Ohtake
通讯作者：
Takanori Moriyasu and Satoshi Ohtake

制約付きテスト生成を用いたスキャンBIST のLFSR シード生成法

使用约束测试生成扫描 BIST LFSR 种子生成方法