Evaluation of crack propagation behavior based on stress mapping within grains by synchrotron microbeam

基于同步加速器微束晶粒内应力映射的裂纹扩展行为评估

• 批准号: 22656034
• 负责人: TANAKA Keisuke
• 金额: $ 2.18万
• 依托单位: Meijo University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2010 至 2011
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22656034/
• 关键词: 放射光; ひずみマッピング; 2次元検出器; き裂; 結晶方位; ひずみ応力マッピング; X線CT; 疲労き裂; 応力腐食割れ; 破壊力学

Fundamental equations are derived for the stress measurement in single crystals using monochromatic X-rays and white X-rays. Two-dimension detectors are necessary for measurements with high precision. A two-dimensional detector, PILATUS, was confirmed to be usable for stress measurement using synchrotron X-rays. Stress values measured in each grain around SCC and fatigue cracks in nickel-base alloy have large variation, and was expected to have a big influence on the propagation behavior of grain-size order cracks.

基本方程是使用单色X射线和白色X射线的单晶进行应力测量得出的。二维探测器对于高精度的测量是必需的。确认使用同步加速器X射线的二维检测器Pilatus可用于应力测量。在SCC周围测得的应力值和镍基合金中疲劳裂纹的应力值有很大的变化，并且预计对晶粒尺寸阶裂纹的传播行为有很大的影响。

项目成果

Hybrid Measurement of CT and Strain Distribution of Internal Crack using Synchrotron High-Energy Monochromatic X-Rays

使用同步加速器高能单色 X 射线混合测量内部裂纹的 CT 和应变分布

• 发表时间: 2009
• 作者: K. Tanaka;T. Shobu;H. Kimachi
• 通讯作者: H. Kimachi

YBCO薄膜の白色X線を用いたひずみ測定および弾性定数解析

使用白光 X 射线测量 YBCO 薄膜的应变和弹性常数分析

• 发表时间: 2011
• 作者: 町屋修太郎;長村光造;菖蒲敬久;菅野未知央;田中啓介
• 通讯作者: 田中啓介

Evaluation of Internal Stresses Using 2D-detector, International Conference on Mechanical Stress Evaluation by Neutron and Synchrotron Radiation

使用 2D 探测器评估内应力，中子和同步辐射评估机械应力国际会议

• 发表时间: 2011
• 作者: K. Suzuki;T. Shobu;A. Shiro;H. Toyokawa
• 通讯作者: H. Toyokawa

Evaluation of Internal Stress Using 2D-Detector

使用 2D 检测器评估内应力

• 发表时间: 2011
• 作者: K. Suzuki;T. Shobu;A. Shiro;H. Toyokawa;Kenji SUZUKI
• 通讯作者: Kenji SUZUKI

Strain measurement near fatigue crack in ultrafine-grained steel by polychromatic synchrotron radiation

多色同步辐射测量超细晶钢疲劳裂纹附近的应变

• 发表时间: 2010
• 期刊: Materials Science Forum
• 作者: Y.Akiniwa;H.Kimura;J.Shibano;K.Kiriyama;T.Shobu
• 通讯作者: T.Shobu