A diamond thin film growth on SiC buffer layer on a Si substrate

Si 衬底上 SiC 缓冲层上生长金刚石薄膜

基本信息

  • 批准号:
    21560334
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 3万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2009
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2009 至 2011
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

The purpose of this research is to use low cost Si substrate for fabricating future power devices using nanocrystalline diamond (NCD) on SiC/Si substrate. We have succeeded in fabricating pn diode using n-type NCD film on a SiC film grown on p-type Si substrate.
本研究的目的是使用低成本的 Si 基板,在 SiC/Si 基板上使用纳米晶金刚石 (NCD) 制造未来的功率器件。我们已经成功地在 p 型 Si 衬底上生长的 SiC 薄膜上使用 n 型 NCD 薄膜制造了 pn 二极管。

项目成果

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会议论文数量(0)
专利数量(0)
半導体基板上へのナノダイヤモンド成膜とダイオード特性に関する研究
半导体衬底上纳米金刚石成膜及二极管特性研究
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    M.K.Ahmad;K.Murakami;天野僚 ,五 島正基,加藤喜峰,堤井君元
  • 通讯作者:
    天野僚 ,五 島正基,加藤喜峰,堤井君元
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3C-SiC/纳米晶金刚石层状薄膜的生长和电学性能
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Akira KOGA;Kungen TEII;Masaki GOTO;Kazuhiro YAMADA;and Yoshimine KATO
  • 通讯作者:
    and Yoshimine KATO
p型4H‐SiC/n型ナノクリスタルダイヤモンド ダイオードの高温動作
p型4H-SiC/n型纳米晶金刚石二极管的高温工作
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    天野 僚,五島 正基,下田尚孝;加藤 喜峰,堤井 君元
  • 通讯作者:
    加藤 喜峰,堤井 君元
ナノクリスタルダイヤモンド薄膜のオーミック電極特性
纳米晶金刚石薄膜的欧姆电极特性
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    下田尚孝;加藤喜峰;堤井君元
  • 通讯作者:
    堤井君元
{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ patent.updateTime }}

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{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
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    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

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    $ 3万
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{{ showInfoDetail.title }}

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