Time-resolved x-ray standing waves of ferroelectric ultra-thin film for a polarization measurement

用于偏振测量的铁电超薄膜的时间分辨 X 射线驻波

• 批准号: 20510113
• 负责人: SAKATA Osami
• 金额: $ 3万
• 依托单位: Japan Synchrotron Radiation Research Institute
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2008
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2008 至 2010
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-20510113/
• 关键词: ナノ材料解析; 評価; X線定在波法; 酸化物基板; 超薄膜; X線集光ビーム; マイクロビーム; 界面原子配列; 時分割X線回折; 強誘電体超薄膜; ナノ秒オーダー; 電気分極; 格子歪; 電歪定数; 圧電定数; 物性同時測定

We succeeded in recording very narrow profiles diffracted from oxide substrates, which means that the crystal substrates were regarded as perfect crystals. X-ray standing waves and diffracted curves caused by dynamical diffraction effects were observed from nanostructures and thin films on oxide crystals. In addition, we developed time-resolved measurements of x-ray diffraction and polarization enabled determination of the piezoelectric constants and electrostrictive coefficients of a ferroelectric film.

我们成功地记录了氧化物基底的非常窄的衍射轮廓，这意味着晶体基底被认为是完美的晶体。从氧化物晶体上的纳米结构和薄膜中观察到由动态衍射效应引起的X射线驻波和衍射曲线。此外，我们还开发了 X 射线衍射和偏振的时间分辨测量方法，可以确定铁电薄膜的压电常数和电致伸缩系数。

项目成果

招待講演:高輝度放射光X線回折による固液界面の研究の現状

特邀报告：高强度同步加速器X射线衍射固液界面研究现状

• 发表时间: 2010
• 作者: Kaori Niki;Gaku Mochimaru;Hitoshi Shindo;坂田修身
• 通讯作者: 坂田修身

酸化物薄膜や金属電極の埋もれた界面構造解析のための硬X線定在波測定用光学系、口頭発表

用于测量硬 X 射线驻波的光学系统，用于氧化物薄膜和金属电极的掩埋界面结构分析，口头报告

• 发表时间: 2011
• 作者: 坂田修身;工藤統吾;今井康彦
• 通讯作者: 今井康彦

高輝度放射光による埋もれた界面の研究の最前線、招待講演

高强度同步辐射埋地界面研究前沿特邀报告

• 发表时间: 2009
• 作者: Y. Shiraishi;N. Nishida;and N. Toshima;山田俊樹;坂田修身
• 通讯作者: 坂田修身

Synchrotron X-ray Diffraction Study on a Single Nanowire of PX-phase Lead Titanate

PX相钛酸铅单根纳米线的同步辐射X射线衍射研究

• 发表时间: 2010
• 期刊: J.Eur.Ceram.Soc. 30
• 作者: T.Yamada;J.Wang;O.Sakata;C.S.Sandu;Z.He;T.Kamo;S.Yasui;N.Stter;H.Funakubo
• 通讯作者: H.Funakubo

高輝度放射光による埋もれた界面の研究の最前線(招待講演)

高强度同步辐射埋地界面研究前沿（特邀报告）

• 发表时间: 2009
• 作者: A.Sujith;T.Itoh;H.Abe;A.A.Anas;V.Biju;M.Ishikawa;坂田修身
• 通讯作者: 坂田修身