Development of X-ray scattering measurement system for in-situ observations of semiconductor crystalline growth
半导体晶体生长原位观测X射线散射测量系统的开发
基本信息
- 批准号:19360006
- 负责人:
- 金额:$ 11.98万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2007
- 资助国家:日本
- 起止时间:2007 至 2008
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
究極の半導体デバイス開発に必要な、1原子層の精度で界面を評価するX線CTR散乱測定の新しい測定系の開発を行った.固定された試料結晶が焦点に来るように集光されたX 線源と2次元の検出器を組み合わせることで、1) 実験室レベルのX 線源で実現可能、2) 可動部を不要、3) 他の装置等との組み合わせ可能、などの様々な利点を持つ測定系が構築でき、従来のより大型の装置と遜色のない性能をえた.
我们已经开发了一种用于X射线CTR散射测量的新测量系统,该系统以一个原子层的准确性评估界面,这对于最终的半导体设备开发是必需的。通过将集中的X射线源相结合,使固定的样品晶体焦点和二维探测器,我们已经能够构建具有各种优势的测量系统,例如1)可以通过实验室级X射线源,2)无运动零件来实现它,并且可以与其他设备相结合,从而使其与较大的设备相比,可以与其他设备进行比较。
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
X-ray CTR scattering measurement to investigate the formation process of InP/GaInAs interface
X射线CTR散射测量研究InP/GaInAs界面的形成过程
- DOI:10.1088/1742-6596/83/1/012031
- 发表时间:2007
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:M. Tabuchi;A. Mori;Y. Ohtake;and Y. Takeda
- 通讯作者:and Y. Takeda
成長温度と成長速度がInP/GaInAs 界面に及ぼす影響のX 線CTR 散乱法による解析
X射线CTR散射法分析生长温度和生长速率对InP/GaInAs界面的影响
- DOI:
- 发表时间:2008
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:為岡博;森晶子;田渕雅夫;竹田美和
- 通讯作者:竹田美和
Influence of growth rate and temperature on InP/GaInAs interface structure analyzed by X-ray CTR scattering measurement
X射线CTR散射测量分析生长速率和温度对InP/GaInAs界面结构的影响
- DOI:
- 发表时间:2009
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:H. Tameoka;A. Mori;M. Tabuchi;and Y. Takeda
- 通讯作者:and Y. Takeda
X-ray CTR scattering, measurements using conventional X-ray source to study semiconductor hetero-interfaces
X 射线 CTR 散射,使用传统 X 射线源进行测量以研究半导体异质界面
- DOI:
- 发表时间:2008
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Y. Maeda;M. TabucM;Y. TaKeda
- 通讯作者:Y. TaKeda
Mechanisms of As distribution in InP on GaInAs layer grown by OMVPE
OMVPE 生长的 GaInAs 层上 InP 中 As 的分布机制
- DOI:
- 发表时间:2007
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:M. Tabuchi;Y. Ohtake;A. Mori;and Y. Takeda
- 通讯作者:and Y. Takeda
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Distributions of impurity atoms in semiconductors analyzed by X-ray CTR scattering measurement
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- 批准号:
14550007 - 财政年份:2002
- 资助金额:
$ 11.98万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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- 资助金额:
$ 11.98万 - 项目类别:
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$ 11.98万 - 项目类别:
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