Proximal multi-probe measurement and control method for nanometer-scale strrctures based on frequency modulation AFM

基于调频AFM的纳米结构近端多探针测控方法

• 批准号: 19106001
• 负责人: YAMADA Hirofumi
• 金额: $ 63.32万
• 依托单位: Kyoto University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
• 财政年份: 2007
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2007 至 2011
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-19106001/
• 关键词: 走査型プローブ顕微鏡; マルチAFMプローブ技術; ナノ空間相関; ナノ刺激応答; 液中高分解能; 生体分子; FM-AFM; KFM; 振動散逸エネルギー; 有機分子薄膜; 液中高分解能イメージング; 生体分子イメージング; マルチプローブAFM技術; 駅流高分解能イメージング; 生体イメージング; 静電気力マッピング

A novel dual-probe AFM working in various environments has been developed based on vertical incidence optical beam deflection method. We succeeded in visualizing nanoscale anisotropic carrier conduction of a polydiacetylene crystal, especially in the diacetylene chain direction, as well as in measuring transistor characteristics of a single grain pentacene film. Furthermore, high-resolution dual-probe AFM measurements in physiological environments have been established toward the molecular-scale analysis of biological functions by use of the two-probe stimulus-response measurement

基于垂直入射光束偏转方法，开发了一种适用于各种环境的新型双探针原子力显微镜。我们成功地可视化了聚丁二炔晶体的纳米级各向异性载流子传导，特别是在丁二炔链方向，以及测量了单晶粒并五苯薄膜的晶体管特性。此外，已经建立了生理环境中的高分辨率双探针 AFM 测量，通过使用双探针刺激响应测量来对生物功能进行分子尺度分析

项目成果

Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method

光束偏转法多探针原子力显微镜的研制

• 发表时间: 2007
• 作者: E. Tsunemi;N. Satoh;K. Kobayashi;K. Matsushige and H. Yamada
• 通讯作者: K. Matsushige and H. Yamada

High-resolution Imaging of Monoclonal Antibodies in Liquids by FM-AFM

通过 FM-AFM 对液体中的单克隆抗体进行高分辨率成像

• 发表时间: 2011
• 作者: S. Ido;K. Kimura;N. Oyabu;K. Kobayashi;M. Tsukada;K. Matsushige;H. Yamada;井戸慎一郎;井戸慎一郎;井戸慎一郎;Shinichiro Ido
• 通讯作者: Shinichiro Ido

走査型プローブ顕微鏡の出力処理方法及び走査型プローブ顕微鏡

扫描探针显微镜的输出处理方法及扫描探针显微镜

• 发表时间: 2008

静電気力励振を用いた液中FM-AFM観察

利用静电力激励在液体中进行 FM-AFM 观察

• 发表时间: 2010
• 作者: 梅田健一;平田芳樹;大藪範昭;小林圭;松重和美;山田啓文
• 通讯作者: 山田啓文

Investigation of local electrical properties of pentacene thin films by dual-probe atomic force microscopy

双探针原子力显微镜研究并五苯薄膜的局部电学性质

• 发表时间: 2009
• 作者: M.Hirose;E.Tsunemi;K.Kobayashi;H.Yamada;K.Matsushige
• 通讯作者: K.Matsushige