VLSIの電流テスト容易化設計と電流波形による故障検出に関する研究

VLSI电流可测试性设计和电流波形故障检测研究

基本信息

批准号：
07780218
负责人：
温暁青
金额：
$ 0.7万
依托单位：
Akita University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
1995
资助国家：
日本
起止时间：
1995 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

近年、電流テストという新しいテスト方式の、CMOS回路に対する有効性が報告されている.本研究では、電流テストを実用化することが目標とされ、以下の成果が得られている.1.電流テストにおける電流計測が遅いことに対処するため、少ないテストパターンでテストできるk-FR回路の概念を提案した.k-FR回路はNOT,EOR,およびk以下の入力線をもつNAND,AND,OR,NORゲートにより構成される.電流テストを行う場合は、k-FR回路のすべての縮退故障はk^+1のテストパターンでテストすることができる.したがって、k-FR回路の電流テストを行うために、k^+1のテストパターンで十分である.kの値が通常2または3なので、テストパターン数は極めて少ない.我々はまた、任意の組み合わせ論理回路をk-FR回路に変換するアルゴリズムを提案した.この変換では、トランジスタ数で表す回路オーバーヘッドをなるべく小さくすること、およびもとの回路のクリティカルパスの長さをなるべく変えないことが考慮されている.回路変換の結果により、ゲートアレー回路をk・R回路に変換する場合のコストが少なく実用範囲内であることが分かった.2.ローカル欠陥を考える場合、トランジスタ短絡故障モデルが有効である.しかし、このモデルでは、非常に多くの故障を考慮する必要がある.我々は等価故障関係を利用したMICとSICという2つの故障数削減手法を提案し、シミュレーション実験によりその有効性を示した.また、すべてのテストパターンとすべての故障に対するシミュレーションの結果を記憶する故障表を利用したテスト集合選択の新しい手法も提案した.3.電流テストでは、どんな故障も電流に影響するので、観測という観点から見れば、観測点が一つしかないことになる.このため、電流テストによる故障箇所の指摘である故障診断は困難だと思われる.我々はランダムなパターンとアルゴリズム的に生成されたパターンを用いて故障診断を行う手法を提案した.実験結果により、多数の故障の診断が電流テストのみで行うことができることを示した.また、回路がゲートアレー構造をもつ場合、電流テストだけでも非常に高い診断分解能を達成することができることを示した.

近年来，在本研究中报告了称为当前测试方法的新测试方法。为了应对执行电流测试时的慢速电流测量，它是由Nor Gate配置的，可以在K^+1的测试模式中测试K-FR电路的所有撤退故障为了执行K-fr电路的当前测试。小。原始电路没有尽可能多地改变，当时，在考虑局部缺陷时，转换为k和r电路的成本是在实用的范围内。失败。我们提出的两种方法是使用等效失败的麦克风和SIC的数量，并通过模拟实验显示其有效性。在当前测试中，一个仿真的结果，任何失败都会影响到电流，因此从观察点开始，只有一个观察点。很难诊断出通过当前测试来指出的失败该电路具有一个栅极的巷子结构，仅当前测试就可以实现很高的诊断分辨率。