IC Test Method Based on Charge Volume Injected from a Power Supply Circuit within a Timing Window

基于时序窗口内电源电路注入电荷量的IC测试方法

基本信息

  • 批准号：
    15K12002
  • 负责人：
    Hashizume Masaki
  • 金额：
    $ 1.83万
  • 依托单位：
    The University of Tokushima
  • 依托单位国家：
    日本
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
  • 财政年份：
    2015
  • 资助国家：
    日本
  • 起止时间：
    2015-04-01 至 2017-03-31
  • 项目状态：
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（11）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
A Built-in Test Circuit for Injected Charge Tests of Open Defects in CMOS ICs
一种用于 CMOS IC 开路缺陷注入电荷测试的内置测试电路
A Power Supply Circuit for Interconnect Tests Based on Injected Charge Volume of 3D IC
基于3D IC注入电荷量的互连测试电源电路
  • DOI：
  • 发表时间：
    2016
  • 期刊：
    Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan 2016
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    Kouhei Ohtani;Masaki Hashizume;Daisuke Suga;Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
  • 通讯作者：
    Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
Electrical Test for Open Defects in CMOS ICs by Injected Charge
通过注入电荷对 CMOS IC 中的开路缺陷进行电气测试
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研究使用 IDDT 出现时间进行非传播故障检测的开路故障测试方法的有效性
  • DOI：
  • 发表时间：
    2016
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    三好 大地;四柳 浩之;橋爪 正樹
  • 通讯作者：
    橋爪 正樹
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  • 作者：
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  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
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  • 通讯作者：
    Hashizume Masaki
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  • DOI：
    10.1109/icsj.2018.8602560
  • 发表时间：
    2018
  • 期刊：
    Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan 2018
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    Kanda Michiya;Yabui Daisuke;Hashizume Masaki;Yotsuyanagi Hiroyuki;Lu Shyue-Kung
  • 通讯作者：
    Lu Shyue-Kung

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