鉄酸素系垂直磁化特殊構造薄膜の磁気光学効果

铁氧垂直磁化特殊结构薄膜的磁光效应

• 批准号: 63540263
• 负责人: 溝口 正
• 金额: $ 1.28万
• 依托单位: Gakushuin University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1988
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1988 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-63540263/
• 关键词: 垂直磁化膜; 鉄酸化物; 酸化物金属複合薄膜; 分光偏光解析装置; マクセル〜ガーネットの理論

RFスパッタ法により作製した非化学定量鉄酸素系薄膜Fe_XO_<1-X>はX>0.5の領域で強磁性を示し、しかも垂直磁化膜となる。これはFeOの母相中に微細なアモルファス状の金属Feが針状に析出し、その長手方向が膜面に垂直方向に配向しているというモデルによって説明できる。^<1)>このような酸化物金属複合垂直磁化膜に対し、光学的な測定を行いその複素反射率から複素誘電率を求めることを昭和63年度の研究目的とした。本年度の科学研究費(一般C 200万)により、可視域の小型分光器(日本分光 CTー10型)、光電子増倍管、回転パルスステージ(シグマ光機Σ401ー(3))等のコンポーネントを購入することができた。これらを、独自に設計製作した光学ゴニオ装置に組み込んで、波長400ー800nmの領域での分光偏光解析装置を完成した。この装置を設置する光学除振台も自作した。入射角の読み取りはマグネスケールを用い(1/500)°の精度で行い、その値をコンピュータに取り込む。偏光解析にはいくつかの手法があるが、我々は広い波長にわたる分光偏光解析を行う目的から、1/4波長板を用いないΔーtan〓法を採用した。ハロゲンランプ光源をでた光は偏光子によってS成分とP成分を等量含む直線偏光となって入射する。試料で反射された光は検光子、分光器を経て光電管で検出されその強度がコンピュータに取り込まれる。光源、光電管の波長依存性、及び分光器の偏光角依存性をあらかじめ計測しておき、測定結果を補正した。FeーO薄膜にたいする実験は金属相が増すに従って長波長側の吸収が増していくという結果を得た。誘電体母相中に微細金属粒が分散した系に対するマクセル〜ガーネットの理論を用い実験結果を解析した。大局的な様相はこれで説明がつく。^<2)>今後針状金属析出相の異方性をどのように解析にとりこんでいくかを考察する必要がある。1)T.Mizoguchi,N.Akutsu and M.Akimitsu;J.Appl.Phys,(1987)31582)佐藤賢治、恒川栄一、川越毅、溝口正;1989年 日本物理学会年会講演予定

由RF溅射方法产生的非化学确定的铁氧薄膜Fe_xo_ <1-x>在X> 0.5区域中表现出铁磁性，并且是垂直磁化膜。这可以通过该模型来解释，在FEO的基质中，精细的无定形金属Fe沉淀出来，其纵向方向定向垂直于膜表面。 ^<1）>研究的目的是对这种氧化物金属复合式垂直磁化膜进行光学测量，以确定其复杂反射率的复杂介电常数。今年的科学研究资金（一般C 200万）使我们能够购买诸如较小的可见光谱仪（日本光谱CT-10型），光电倍增管管和旋转脉冲阶段（Sigma光学机器σ401-（3））等组件。这些被整合到了由我们自己的设计和制造设计和制造的光学Gonio设备中，以完成光谱椭圆分析仪的波长在400-800 nm的波长范围内。我还构建了自己的光振动隔离表来安装此设备。使用磁标比（1/500）°​​读取入射角，并将值带入计算机。椭圆法有几种方法，但是我们采用了δ-TAN方法，而无需使用四分之一波板，目的是在宽波长上进行光谱椭圆法。从卤素灯光源发出的光被偏振器作为线性偏振光入射，其中包含相等量的S和P分量。样品反射的光是通过分析仪和光谱仪检测到的，并由计算机捕获光强度。预先测量光源和光管的波长依赖性以及光谱仪的极化角度依赖性，并校正了测量结果。 Fe-O薄膜的实验表明，长波长侧的吸收随着金属相的增加而增加。使用Maxell-Garnet理论分析了实验结果，该系统将细金属颗粒分散在介电基质中。这解释了广泛的方面。 ^<2）>有必要考虑如何将未来的杂金属沉淀相各向异性纳入分析。 1）t。 Mizoguchi，N。Akutsu和M. Akimitsu; J。应用。 Phys，（1987）31582）Sato Kenji，Tsunekawa Eiichi，Kawagoe Tsune，Mizoguchi Masa； 1989年日本物理学会年会