微細磁性体配列のスピン検出走査電顕による研究

利用自旋检测扫描电子显微镜研究精细磁性材料阵列

• 批准号: 09236221
• 负责人: 溝口 正
• 金额: $ 1.34万
• 依托单位: Gakushuin University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 1997
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1997 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-09236221/
• 关键词: 微細磁性体; スピン偏極度; SXAPS; スピン偏極電子線; スピン偏極度検出器

1.Ni(110)単結晶に対して、スピン偏極電子線を用いたNi2p_<2/3>およびNi2p_<1/2>SXAPSの測定を行った。軟X線強度をパルスカウント法で計測したので、ΔE=0.13eVの高分解能のスペクトルを得ることができた。スペクトル解析により、APSスペクトルは空の状態密度だけに依存するわけではなく、内殻ホールのできる確率を考慮に入れなければいけないことがわかった。このことは特にNi2p_<1/2>スペクトルでは顕著である。2.微細磁性体配列は、通常の走査電子顕微鏡を使用し、電子線リソグラフィー技術によって作成を試みている。これまでに、レジストの加工条件を決定した。3.自作した小型スピン偏極度検出器を使用し、マグネタイト(110)単結晶表面から放出される2次電子のスピン偏極度を測定した。観測されたスピン偏極度は約10%であった。これは鉄と酸素の全価電子の平均スピン偏極度と一致する。

1。Ni（110）单晶使用Ni2p_ <2/3>和Ni2p_ <1/2> SXAPS的自旋极化电子束测量。由于通过脉冲计数方法测量了软X射线强度，因此获得了ΔE= 0.13EV的高分辨率光谱。光谱分析表明，APS频谱不仅取决于天空中状态的密度，但必须考虑内壳孔的概率。这在Ni2p_ <1/2>频谱中尤其明显。 2。尝试使用常规扫描电子显微镜和使用电子束光刻技术来创建细磁阵列。到目前为止，已经确定了拒绝的处理条件。 3。使用一个小型的自旋极化检测器，测量了从磁铁矿表面（110）单晶发出的二次电子的自旋极化。观察到的自旋极化约为10％。这与铁和氧气总价电子的平均自旋极化相吻合。