Mikroanalyse höchster Auflösung von magnetischen Funktionsschichten der Sensortechnik

传感器技术磁性功能层最高分辨率的微分析

• 批准号: 5207618
• 负责人: Professor Dr. Andreas Hütten
• 金额: --
• 依托单位: Arbeitsgruppe Dünne Schichten und Physik der Nanostrukturen
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 1999
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1998-12-31 至 2003-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5207618?language=en
• 关键词: Mikroanalyse; chster; Aufl; sung; von

Magnetische Mehrfachschichtsysteme basierend auf {NiFe/Cu} mit Spuren von Ag- und Co-Atomen an den Grenzflächen sollen mit der Zeit höchstauflösende Analysemethoden, der tomographischen Atomsonde, den Ummagnetisierungsprozessen und dem Magnetotransportverhalten aufgedeckt werden. Dazu werden mit einem neuartigen Verfahren Schichtsysteme zu Probenspitzen für die Feldionenmikroskopie mittels Elektronenstrahl-Lithographie präpariert. Die Mikrostruktur der Schichtsysteme soll über unterschiedliche Herstellungsbedingungen und Wärmebehandlungen varriert werden. Gleichzeitig werden die Proben chemisch und strukturell charakterisiert und ihr magnetisches Verhalten untersucht. Der Einfluß von Grenzflächenrauigkeit, Schichtdurchbrüchen, Reaktionsphasen oder Grenzflächensegregationen auf den Magnetotransport soll aufgeklärt und darauf aufbauend Strategien für eine mögliche Optimierung dieser technisch interessanten Schichten entwickelt werden.

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