Hetero-junction devices of epsilon-Ga2O3 semiconductors by mist CVD technique
采用雾气CVD技术制备ε-Ga2O3半导体异质结器件
基本信息
- 批准号:17K17839
- 负责人:
- 金额:$ 2.83万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
- 财政年份:2017
- 资助国家:日本
- 起止时间:2017-04-01 至 2019-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(30)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
ミストCVD法によるc面サファイア基板上へのε-Ga2O3薄膜成長におけるNiOバッファ層の効果
NiO缓冲层对雾气CVD法在c面蓝宝石衬底上生长ε-Ga2O3薄膜的影响
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:新田 悠汰;田原 大祐;森本 尚太;西中 浩之;吉本 昌広
- 通讯作者:吉本 昌広
ミストCVD法を用いたvan der Waals epitaxyによるフレキシブルなε-Ga2O3薄膜のエピタキシャル成長
使用雾气CVD法通过范德华外延法外延生长柔性ε-Ga2O3薄膜
- DOI:
- 发表时间:2019
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:新田悠汰;田原大祐;西中浩之;吉本昌広
- 通讯作者:吉本昌広
Stoichiometric control for heteroepitaxial growth of smooth ε-Ga2O3 thin films on c-plane AlN templates by mist chemical vapor deposition
通过雾化学气相沉积在 c 面 AlN 模板上异质外延生长光滑 ε-Ga2O3 薄膜的化学计量控制
- DOI:10.7567/jjap.56.078004
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:1.5
- 作者:Tahara Daisuke;Nishinaka Hiroyuki;Morimoto Shota;Yoshimoto Masahiro
- 通讯作者:Yoshimoto Masahiro
GaNテンプレート表面がε-Ga2O3薄膜に及ぼす影響
GaN模板表面对ε-Ga2O3薄膜的影响
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:森本尚太;田原大祐;西中浩之;吉本昌広
- 通讯作者:吉本昌広
Alloying of ε-In2xGa2-2xO3 epitaxial thin films grown on AlN templates by mist-CVD
通过雾气化学气相沉积 (mist-CVD) 在 AlN 模板上生长 ε-In2xGa2-2xO3 外延薄膜的合金化
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:N. Miyauchi;D. Taraha;S. Morimoto;H. Nishinaka;M. Yoshimoto
- 通讯作者:M. Yoshimoto
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β-Ga2O3衬底表面取向和形貌对NiO外延生长初始阶段的影响
- DOI:
- 发表时间:
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- 影响因子:0
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容易还是不容易:幼儿在交际情境中的错误信念理解
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- 发表时间:
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- 影响因子:0
- 作者:
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