パワーデバイス劣化機構の解明に向けた格子欠陥のオペランド観察技術の開発

开发晶格缺陷原位观察技术以阐明功率器件劣化机制

基本信息

  • 批准号:
    23H01872
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 12.23万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2023
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2023-04-01 至 2027-03-31
  • 项目状态:
    未结题

项目摘要

项目成果

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  • 通讯作者:
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  • 发表时间:
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  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    石川由加里;菅原 義弘;姚 永昭;武田秀俊;會田英雄;只友一行;伊髙 健治;伊藤榛華,柳下 崇
  • 通讯作者:
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  • 影响因子:
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  • 发表时间:
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  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    石川由加里;菅原 義弘;姚 永昭;武田秀俊;會田英雄;只友一行
  • 通讯作者:
    只友一行
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  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    石川由加里;菅原 義弘;姚 永昭;武田秀俊;會田英雄;只友一行;伊髙 健治
  • 通讯作者:
    伊髙 健治

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  • 资助金额:
    $ 12.23万
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