Study of structural fluctuation of nanomaterials by Cs-corrected electron lenses

利用Cs校正电子透镜研究纳米材料的结构涨落

• 批准号: 17201022
• 负责人: TANAKA Nobuo
• 金额: $ 31.28万
• 依托单位: Nagoya University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
• 财政年份: 2005
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2005 至 2007
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-17201022/
• 关键词: Structural fluctuation; Cs-corrected TEM; Nanostracture; Interface, Surface; TEM; STEM; 球面収差補正 TEM; 高分解能観察; ナノ制限視野回折; 炭素ナノチューブ; 準結晶; 球面収差補正; ナノ電子回折; ナノEELS; 半導体界面

During the research period of three years (2005-07), the present group has published 19 original papers, 24 proceedings of international meetings, 4 reviews and 5 books including chapter-writing on the development of new measurement methods of structural fluctuation of nano-materials by using spherical aberration correction in transmission electron microscopy (TEM) as follows :(1) Observation of 0.2nm resolution in lanthanide oxides high-k materials/silicon interfaces by Cs-corrected TEM.(2) Observation of elemental fluctuation of the lanthanide oxide/silicon interfaces by using Cs-corrected TEM.(3) Observation of six-member rings in single wall carbon nanotubes by Cs-corrected TEM. The result was reported on commercial news papers such as Asahi News Paper.(4) Observation of oxygen-defect structures in photocatalytic titanium oxides caused by irradiation of light with shortage of oxygen.(5) Visualization of aluminum atoms in AJNiCo quaicrystals by using Cs-corrected TEM and discussion of their stability with the structural fluctuation.(6) Observation of a new interface structure between germanium quantum dos and slightly oxidized silicon.

在三年的研究期间（2005-07），本课题组发表了19篇原创论文、24篇国际会议论文集、4篇综述和5本书籍，包括撰写关于纳米结构涨落新测量方法开发的章节。通过在透射电子显微镜（TEM）中使用球差校正来观察材料，如下：（1）通过观察0.2nm分辨率的镧系氧化物高k材料/硅界面Cs校正TEM。(2)利用Cs校正TEM观察稀土氧化物/硅界面的元素涨落。(3)利用Cs校正TEM观察单壁碳纳米管中的六元环。该结果在《朝日新闻》等商业报纸上进行了报道。(4) 观察缺氧条件下光照射引起的光催化氧化钛中的氧缺陷结构。(5) 利用 Cs 可视化 AJNiCo 准晶体中的铝原子-校正TEM并讨论其稳定性随结构涨落的变化。(6)观察到锗量子剂量与微氧化硅之间的新界面结构。

项目成果

球面収差補正による高分解能電子顕微鏡法の分解能向上

通过校正球面像差提高高分辨率电子显微镜的分辨率

• 发表时间: 2005
• 期刊: 日本結晶学会誌 47,No.1
• 作者: Mori;E.;et. al.;田中信夫
• 通讯作者: 田中信夫

Direct Observation of Six-membered Rings in a Graphene Monolayer Constituting a Single Wall Carbon Nanotube by Using Cs-Corrected TEM

使用 Cs 校正 TEM 直接观察构成单壁碳纳米管的石墨烯单层中的六元环

• 发表时间: 2006
• 作者: Hirahara;K.;Saitoh;K.;Yamasaki;J and Tanaka;N
• 通讯作者: N

「ナノテクのための物理入門」8章分担執筆

合着《纳米技术物理学导论》第8章

• 发表时间: 2007
• 作者: 小林 博;村井 麻衣子;鈴木 登代子;大久保 政芳;田中信夫
• 通讯作者: 田中信夫

Depth sensitivity of Cs-corrected TEM imaging

Cs 校正 TEM 成像的深度灵敏度

• 发表时间: 2007
• 期刊: Microscopy and Microanalysis
• 影响因子: 2.8
• 作者: Hirahara;K.;Yamasaki;J.;Saitoh;K. and Tanaka N
• 通讯作者: K. and Tanaka N

Direct imaging of local atomic ordering in a Pd-Ni-P bulk metallic glass using Cs-corrected transmission electron microscopy

• DOI: 10.1016/j.ultramic.2006.06.002
• 发表时间: 2007-02-01
• 期刊: ULTRAMICROSCOPY
• 影响因子: 2.2
• 作者: Hirata, Akihiko;Hirotsu, Yoshihiko;Tanaka, Nobuo
• 通讯作者: Tanaka, Nobuo