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Study on LSI design methods for security and testability
LSI安全性和可测试性设计方法研究
基本信息
- 批准号：25540020
- 负责人：
- 金额：$ 2.41万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
- 财政年份：2013
- 资助国家：日本
- 起止时间：2013-04-01 至 2015-03-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
项目成果
期刊论文数量（9）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法
使用多周期捕获测试生成的面向低功耗的转换故障测试生成方法
- DOI：
- 发表时间：2014
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Yanagihara;H.;Wakaki;H. & Fujikoshi;Y.;塩雅史;田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大）;山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大）
- 通讯作者：山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大）
A Multi Cycle Capture Test Generation Method for Low Capture Power Dissipation
一种低捕获功耗的多周期捕获测试生成方法
- DOI：
- 发表时间：2015
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Hiroshi Yamazaki;Jun Nishimaki;Toshinori Hosokawa and Masayoshi Yoshimura
- 通讯作者：Toshinori Hosokawa and Masayoshi Yoshimura
A Smart Trojan Circuit and Smart Attack Method in AES Encryption Circuits
AES加密电路中的智能木马电路及智能攻击方法
- DOI：
- 发表时间：2013
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Masayoshi Yoshimura;Amy Ogita and Toshinori Hosokawa
- 通讯作者：Amy Ogita and Toshinori Hosokawa
BASTにおけるシフトデータ量削減法
BAST中的移位数据缩减方法
- DOI：
- 发表时间：2014
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Yanagihara;H.;Wakaki;H. & Fujikoshi;Y.;塩雅史;田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大）
- 通讯作者：田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大）
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YOSHIMURA Masayoshi其他文献
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{{ truncateString('YOSHIMURA Masayoshi', 18)}}的其他基金
Study on LSI design technology to detect Trojan circuit inserted during manufacturing process
制造过程中插入木马电路检测的LSI设计技术研究
- 批准号：
15K00086 - 财政年份：2015
- 资助金额：
$ 2.41万 - 项目类别：
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日常生活不规律量表的开发及信效度验证
- 批准号：
24K14799 - 财政年份：2024
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通过建立高度可靠的河流水生昆虫 DNA 参考，使用环境 DNA 进行金属影响评估
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23K21763 - 财政年份：2024
- 资助金额：
$ 2.41万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
界面欠陥制御に基づく高効率・高信頼性SiC MOSFETの実現
基于界面缺陷控制的高效可靠SiC MOSFET的实现
- 批准号：
24KJ1553 - 财政年份：2024
- 资助金额：
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Grant-in-Aid for JSPS Fellows