Formulation of multiscale thermal model in SiC power semiconductor device

SiC功率半导体器件多尺度热模型的建立

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SiC MOSFET のホットスポット温度予測手法の検討 - ドレイン電圧と冷却面温度の影響
SiC MOSFET热点温度预测方法研究——漏极电压和冷却表面温度的影响
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    小西太一;木伏 理沙子;畠山友行;石塚 勝
  • 通讯作者:
    石塚 勝
Heat Generation and Temperature Distribution of SiC Power MOSFET Using Electro-Thermal Analysis
使用电热分析研究 SiC 功率 MOSFET 的发热和温度分布
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    R. Kibushi;T. Hatakeyama;K. Yuki;N. Unno and M. Ishizuka
  • 通讯作者:
    N. Unno and M. Ishizuka
Evaluation of Amount of Heat Through Each Component of SiC Package Using CFD Analysis
使用 CFD 分析评估 SiC 封装各组件的热量
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    T. Konishi;R. Kibushi;T. Hatakeyama;S. Nakawaga;M. Ishizuka
  • 通讯作者:
    M. Ishizuka
VALUATION OF HEAT FLOW IN A TO-220 PACKAGE MADE OF SIC USING CFD SIMULATION
使用 CFD 模拟评估由 SIC 制成的 TO-220 封装中的热流
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    R. Kibushi;T. Konishi;T. Hatakeyama;S. Nakagawa;N. Unno;K. Yuki;M. Ishizuka;M. Edatsugi
  • 通讯作者:
    M. Edatsugi
次世代SiCパワー半導体パッケージにおける信頼性向上のための熱設計手法の開発
开发热设计方法以提高下一代 SiC 功率半导体封装的可靠性
  • DOI:
  • 发表时间:
    2020
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Kako Iwamoto;Masaki Okado;Junya Utsumi;Hirokazu Tatsuoka;and Yosuke Shimura;枝次将弥,木伏理沙子,結城和久,海野徳幸
  • 通讯作者:
    枝次将弥,木伏理沙子,結城和久,海野徳幸
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KIBUSHI Risako其他文献

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