Research on Silicon-Carbide IoT Platform for Harsh Environment Applications

适合恶劣环境应用的碳化硅物联网平台研究

基本信息

  • 批准号:
    20H00252
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 29.37万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
  • 财政年份:
    2020
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2020-04-01 至 2023-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(46)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Present status for the development of aluminum-based heat dissipative materials
铝基散热材料的发展现状
Bipolar Characteristics of Vanadium-doped 4H-SiC Semi-Insulating Layer for Well-less CMOS Circuits
无阱CMOS电路掺钒4H-SiC半绝缘层的双极特性
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Toya Kai; Kazutoshi Kojima; Takeshi Ohshima; Yasunori Tanaka;Shin
  • 通讯作者:
    Shin
耐放射線性炭化ケイ素半導体デバイスの開発
抗辐射碳化硅半导体器件的开发
  • DOI:
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    大島 武; 武山 昭憲;牧野 高紘;黒木 伸一郎;田中 保宣
  • 通讯作者:
    田中 保宣
エピタキシャル成長による4H-SiC CMOS Well形成
通过外延生长形成 4H-SiC CMOS 阱
  • DOI:
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    甲斐 陶弥 ; 児島一聡; 志摩 拓真; 大島 武; 田中 保宣; 黒木 伸一郎
  • 通讯作者:
    黒木 伸一郎
Amplifier Based on 4H-SiC MOSFET Operation at 500 °C for Harsh Environment Applications
基于 4H-SiC MOSFET 的放大器可在 500 °C 下运行,适用于恶劣环境应用
  • DOI:
    10.1109/ted.2022.3184663
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    3.1
  • 作者:
    Vuong Van Cuong; Tatsuya Meguro; Seiji Ishikawa; Tomonori Maeda; Hiroshi Sezaki; Shin
  • 通讯作者:
    Shin
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Kuroki Shin-Ichiro其他文献

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Research on Silicon Carbide Harsh Environment Electronics
碳化硅恶劣环境电子研究
  • 批准号:
    17H03253
  • 财政年份:
    2017
  • 资助金额:
    $ 29.37万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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    2016
  • 资助金额:
    $ 29.37万
  • 项目类别:
    Fund for the Promotion of Joint International Research (Fostering Joint International Research)

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    $ 29.37万
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Research on Silicon Carbide Harsh Environment Electronics
碳化硅恶劣环境电子研究
  • 批准号:
    17H03253
  • 财政年份:
    2017
  • 资助金额:
    $ 29.37万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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