Research on Silicon-Carbide IoT Platform for Harsh Environment Applications
适合恶劣环境应用的碳化硅物联网平台研究
基本信息
- 批准号:20H00252
- 负责人:
- 金额:$ 29.37万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
- 财政年份:2020
- 资助国家:日本
- 起止时间:2020-04-01 至 2023-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(46)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Present status for the development of aluminum-based heat dissipative materials
铝基散热材料的发展现状
- DOI:10.2464/jilm.66.543
- 发表时间:2024-09-14
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:K. Mizuuchi;Motohiro Tanaka;Y. Agari
- 通讯作者:Y. Agari
Bipolar Characteristics of Vanadium-doped 4H-SiC Semi-Insulating Layer for Well-less CMOS Circuits
无阱CMOS电路掺钒4H-SiC半绝缘层的双极特性
- DOI:
- 发表时间:2022
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Toya Kai; Kazutoshi Kojima; Takeshi Ohshima; Yasunori Tanaka;Shin
- 通讯作者:Shin
エピタキシャル成長による4H-SiC CMOS Well形成
通过外延生长形成 4H-SiC CMOS 阱
- DOI:
- 发表时间:2021
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:甲斐 陶弥 ; 児島一聡; 志摩 拓真; 大島 武; 田中 保宣; 黒木 伸一郎
- 通讯作者:黒木 伸一郎
Amplifier Based on 4H-SiC MOSFET Operation at 500 °C for Harsh Environment Applications
基于 4H-SiC MOSFET 的放大器可在 500 °C 下运行,适用于恶劣环境应用
- DOI:10.1109/ted.2022.3184663
- 发表时间:2022
- 期刊:
- 影响因子:3.1
- 作者:Vuong Van Cuong; Tatsuya Meguro; Seiji Ishikawa; Tomonori Maeda; Hiroshi Sezaki; Shin
- 通讯作者:Shin
{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ patent.updateTime }}
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{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
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Research on Silicon Carbide Harsh Environment Electronics
碳化硅恶劣环境电子研究
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Research on Silicon Carbide Harsh Environment Electronics
碳化硅恶劣环境电子研究
- 批准号:
17H03253 - 财政年份:2017
- 资助金额:
$ 29.37万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)