A digital temperature and voltage sensor that can reduce effects of degradation in VLSIs

数字温度和电压传感器可减少 VLSI 退化的影响

• 批准号: 19K20236
• 负责人: Miyake Yousuke
• 金额: $ 2.66万
• 依托单位: Kyushu Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
• 财政年份: 2019
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2019-04-01 至 2022-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-19K20236/
• 关键词: 温度センサ; 電圧センサ; 劣化; リングオシレータ; LSIテスト; フィールドテスト; VLSI設計技術; ディペンダブル・コンピューティング; デジタルセンサ; NBTI劣化; 信頼性試験; 計算機システム; 情報工学

项目成果

勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について

使用梯度下降法预测电路延迟退化

• 发表时间: 2020
• 作者: 森誠一郎;権藤昌之;三宅庸資;加藤隆明;梶原誠司
• 通讯作者: 梶原誠司

フィールドテスト向けオンチップ遅延測定回路のIoT適用

用于现场测试的片上延迟测量电路的物联网应用

• 发表时间: 2020
• 作者: 三宅庸資;梶原誠司
• 通讯作者: 梶原誠司

On-Chip Test Clock Validation Using A Time-to-Digital Converter in FPGAs

使用 FPGA 中的时间数字转换器进行片上测试时钟验证

• DOI: 10.1109/itc-asia.2019.00040
• 发表时间: 2019
• 期刊: IEEE International Test Conference in Asia
• 作者: Yousuke Miyake;Seiji Kajihara;Poki Chen
• 通讯作者: Poki Chen

On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs

用于 FPGA 现场测试的片上延迟测量

• DOI: 10.1109/itc-asia.2019.00026
• 发表时间: 2019
• 期刊: IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing
• 作者: Yousuke Miyake;Yasuo Sato;Seiji Kajihara
• 通讯作者: Seiji Kajihara

Path Delay Measurement with Correction for Temperature and Voltage Variations

带温度和电压变化校正的路径延迟测量

• DOI: 10.1109/itc-asia51099.2020.00031
• 发表时间: 2020
• 期刊: IEEE International Test Conference in Asia
• 作者: Yousuke Miyake,Takaaki Kato;Seiji KAJIHARA
• 通讯作者: Seiji KAJIHARA