Eigenschaften funktionaler Strukturen auf der Nanoskala, hergestellt durch elektronen-strahlgestützte Verfahren.
通过电子束辅助工艺产生的纳米级功能结构的特性。
基本信息
- 批准号:170948727
- 负责人:
- 金额:--
- 依托单位:
- 依托单位国家:德国
- 项目类别:Research Grants
- 财政年份:2010
- 资助国家:德国
- 起止时间:2009-12-31 至 2014-12-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
Mit der elektronenstrahlinduzierten Materialabscheidung (electron beam induced deposition, EBiD) ist es möglich, feste, z. B. metallhaltige Strukturen mit Abmessungen im Bereich weniger zehn bis hundert Nanometer aus einer gasförmig bereitgestellten Precursor-Chemikalie direkt schreibend, also maskenlos auf einer Probenoberfläche zu erzeugen. Dieses Verfahren wird genutzt, um z. B. Objekte miteinander zu verbinden (Nanobonding), elektrische Leiterbahnen oder freistehende Strukturen zu erzeugen oder um fotolithografische Masken zu reparieren (siehe Stand der Forschung). Über die bisherige Nutzung des EBiD-Verfahrens in Form überwiegend passiver Strukturen hinaus ist im wachsenden Entwicklungsfeld mikro- und nanoskaliger elektromechanischer Systeme (MEMS und NEMS) sowie der Mikro- und Nanorobotik besonders die Herstellung nanoskaliger, funktionaler Strukturen mit sensorischen und aktorischen Ei-genschaften von Interesse. Dieses Arbeitsgebiet, insbesondere die MEMS und NEMS Entwicklung, wird gegenwärtig fast ausschließlich durch klassische Silicium-Mikromechanik (Wafer-Prozessierung) abgedeckt. Obwohl das EBiD-Verfahren durch sequentielles, direktes Schreiben der gewünschten Strukturen sehr viel zeitaufwändiger ist als die Silicium-Mikromechanik, bietet es deutliche Vorteile, die besonders bei einer Kombination beider Verfahren zum Tragen kommen. Beispielsweise können Bauteile, die in klassischer Silicium-Mikromechanik gefertigt werden, unabhängig von der in der Mikromechanik durch die Wafergeometrie und Wafer-Kristallstruktur vorgegebenen Fertigungsrichtung im Nachhinein mit funktionalisierenden Strukturen versehen werden.Die Funktionalität komplexer, z. B. sensorischer oder aktorischer Strukturen ist abhängig von verschiedenen Materialeigenschaften der Struktur selbst. Neben der in der Literatur sehr ausführlich beschriebenen elektrischen Eigenschaften elektronenstrahl-induzierter Abscheidungen sind sowohl mechanische als auch thermische Charakteristika von Interesse, die in der Regel von der Zusammensetzung und Morphologie des Materials abhängen. Da z. B. sensorische und aktorische Strukturen oftmals thermi-schen und mechanischen Belastungen ausgesetzt sind, ist die Kenntnis dieser Eigenschaften für eine präzise Modellierung der Strukturen unumgänglich.In diesem Projekt sollen aus oben genannten Gründen die mechanischen und thermischen Eigenschaften sowie die morphologische Zusammensetzung der aus zwei ausgewählten Precursoren abgeschiedenen Materialien ermittelt werden. Zudem soll deren Abhängigkeit von Prozessparametern während des Abscheideprozesses und der Alterung der erzeugten Strukturen untersucht werden. Die dabei erwarteten Ergebnisse ermöglichen ein detailliertes Verständnis des Abscheideprozesses und somit dessen Optimierung und Beeinflussung im Hinblick auf die Herstellung funktionaler Strukturen mit präzise definierten Eigenschaften.
Mit der elektronenstrahlinduzierten Materialabscheidung(电子束诱导沉积,EBiD) ist es möglich, feste, z。 schreibend,也 maskenlos auf einer Probenoberfläche zu erzeugen。 zu reparieren (siehe Stand der Forschung)。 Herstellung Nanoskaliger,Funktionaler Strukturen mit Sensorischen 和 aktorischen Ei-genschaften von Interesse。 (晶圆加工)abgedeckt。 Verfahren zum Tragen kommen。 funktionalisierenden Strukturen versehen werden.Die Funktionalität komplexer, z。电子工业的特征和机械结构以及热力学特性,取决于材料的形状和形状。 Mechanischen Belastungen ausgesetzt sind,是 Kenntnis dieser Eigenschaften for eine präzise Modellierung der Strukturen unumgänglich。 zwei ausgewählten Precursoren abgeschiedenen Materialien ermittelt werden。 Strukturen mit präzise definierten Eigenschaften。
项目成果
期刊论文数量(1)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}
{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ patent.updateTime }}
Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow其他文献
Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow的其他文献
{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
{{ truncateString('Professor Dr.-Ing. Sergej Fatikow', 18)}}的其他基金
Fast Broadband Scanning Microwave Microscopy (FABSMM)
快速宽带扫描微波显微镜 (FABSMM)
- 批准号:
448404610 - 财政年份:2020
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants
Ultra Small Surface Force Measurements in Vacuum
真空中超小表面力测量
- 批准号:
403719155 - 财政年份:2018
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants
Liquid Contact Probing inside the SEM
SEM 内的液体接触探测
- 批准号:
381855500 - 财政年份:2017
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants
Scanning Probe Processing of 2D Materials
二维材料的扫描探针加工
- 批准号:
315857893 - 财政年份:2016
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants
Vacuum Scanning Microwave Microscopy for quantitative characterization of sub-10 nm and atto-Farad scale capacitors and memories
真空扫描微波显微镜,用于对亚 10 nm 和阿托法拉级电容器和存储器进行定量表征
- 批准号:
258650972 - 财政年份:2014
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants
Compensation of thermal drift effects in atomic force microscopy using probabilistic state estimation
使用概率状态估计补偿原子力显微镜中的热漂移效应
- 批准号:
243221359 - 财政年份:2013
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants
Reliable Assembling of Colloidal Nanoparticles in Two and Three Dimensions by Dual-AFM-based Handling inside a Scanning Electron Microscope
通过在扫描电子显微镜内基于双 AFM 的处理实现二维和三维胶体纳米颗粒的可靠组装
- 批准号:
213422375 - 财政年份:2012
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants
Nutzung lateraler Vibrationen und Oszillationen von AFM-Cantilevern zur Durchführung von Nanomanipulationen (NanoLatVib)
利用 AFM 悬臂的横向振动和振荡来执行纳米操作 (NanoLatVib)
- 批准号:
37292487 - 财政年份:2007
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants
Development of a Nanohandling Desktop Station for Nanocharacterization of CNTs and biological cells by a piezoresistive AFM Probe (NaDeSta)
开发纳米处理桌面站,通过压阻式 AFM 探针 (NaDeSta) 对 CNT 和生物细胞进行纳米表征
- 批准号:
33155844 - 财政年份:2007
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants
Development of an SPM-based micro force sensor and its integration in a flexible micro robot
基于SPM的微力传感器的开发及其集成到柔性微型机器人中
- 批准号:
5341890 - 财政年份:2001
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants
相似海外基金
Establishment of a Support Program for Foreign Medical Workers: Toward the Utilization of the Foreign Technical Internship Program
建立外国医务人员支持计划:利用外国技术实习计划
- 批准号:
17K09249 - 财政年份:2017
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
How to make learning assessment by active learning
如何通过主动学习进行学习评估
- 批准号:
16K04507 - 财政年份:2016
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Experimental Study of the Choice of Wage Scheme : Relative Payment vs. Equal Payment
工资方案选择的实验研究:相对支付与同等支付
- 批准号:
24530247 - 财政年份:2012
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Computergestütztes adaptives Assessment von Schülerkompetenzen beim heuristische Arbeiten mit Repräsentationen funktionaler Zusammenhänge (HEUREKO-CAT)
启发式处理功能连接表示时,计算机支持的学生能力自适应评估 (HEUREKO-CAT)
- 批准号:
203524920 - 财政年份:2011
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Priority Programmes
Räumlich explizite Modelle und Szenarien funktionaler Vegetationsmuster
功能植被格局的空间明确模型和场景
- 批准号:
172401688 - 财政年份:2011
- 资助金额:
-- - 项目类别:
Research Grants