Neue Methode zur Erfassung der Füllstoffverteilung innerhalb von Polymer-Verbundwerkstoffen mittels Rasterelektronenmikroskopie

使用扫描电子显微镜记录聚合物复合材料内填料分布的新方法

• 批准号: 136239823
• 负责人: Professor Dr. Wolfgang Bauhofer
• 金额: --
• 依托单位: Institut für Optische und Elektronische Materialien E-12
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 2009
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2008-12-31 至 2011-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/136239823?language=en
• 关键词: Neue; Methode; zur; Erfassung; der

Verbundwerkstoffe mit elektrisch leitenden Füllteilchen finden vielfache technische Anwendungen. Neben Leitfähigkeitsruß kommen zunehmend auch Carbon Nanotubes (CNT) zum Einsatz, da von den CNT zusätzlich eine mechanische Verstärkung der Matrix erwartet werden kann. Sowohl für die elektrische Leitfähigkeit des Verbundwerkstoffes als auch für seine mechanischen Eigenschaften ist die Verteilung der Füllteilchen in der Matrix von entscheidender Bedeutung. Für Teilchen im nm-Bereich können mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM) sowohl einzelne Teilchen analysiert als auch Übersichtsbilder erstellt werden. Allerdings führt eine unkritische Analyse von REM-Bildern leicht zu Fehlinterpretationen. Wir konnten kürzlich zeigen, dass mit einer gezielt herbeigeführten elektrischen Aufladung der Proben sowohl die Gestalt der CNT als auch ihre Verteilung innerhalb der Polymermatrix über mehrere Längenskalen hinweg untersucht werden kann. Aufbauend auf diese Vorarbeiten soll das vorliegende Forschungsvorhaben zu einem umfassenden Verständnis des durch elektrische Ladungen induzierten Spannungskontrastes zwischen CNT und Matrix im REM führen. In erster Linie wollen wir grundlagenwissenschaftliche Fragestellungen beantworten, die gewonnenen Erkenntnisse werden aber gleichzeitig eine wichtige und dringend benötigte Methode zur Form- und Lageerfassung von leitfähigen Nanopartikeln innerhalb eines Verbundwerkstoffes zur Verfügung stellen.

该公司正在寻找一种新的碳纳米管（CNT），并提供了一种新的碳，不仅仅是问题。 Der Matrix von ientscheidender bedeutung中的verteilungderfüllteilchen。 fürteilchen im nm-bereichKönnenbittels rasterelektronenmikroskopie（rem）sowohl einzelne einzelne teilchen analysiert als a als auchübersichtsbildertsbilderestbilderestellt estellt werden。 Allerdingsführteine unkritische分析了von rem-bildern leicht zu fehlinterpretationen。 Wir KonntenKürzlichZeigen，Dass Mit Einer gezieltHerbeigeführtenElektrischen aufbauendans die sowohl die sowohl die gestalt de cnt de cnt cnt cnt cnt und astrix und matrix im remfü​​hren。在Erster Linie Wollen中，Grundlagen Wissenschaftliche fragestellungen beantworten和leitfähigennanopartikeln innerhalb eines eines eines eines verbundwerkstofferkstoffersoffunkstoffersverfügungverfügungverfügungstellen from-lageerfassung的方法。