Acquisition of a Powder X-Ray Diffractometer with Thin Film and In-Situ High Temperature Capabilities

获得具有薄膜和原位高温功能的粉末 X 射线衍射仪

基本信息

批准号：
9512485
负责人：
Michael Tsapatsis
金额：
$ 11万
依托单位：
University of Massachusetts Amherst
依托单位国家：
美国
项目类别：
Standard Grant
财政年份：
1995
资助国家：
美国
起止时间：
1995-09-01 至 1996-08-31
项目状态：
已结题

来源：
https://www.nsf.gov/awardsearch/showAward?AWD_ID=9512485&HistoricalAwards=false
关键词：
Acquisition Powder Ray Diffractometer Thin

项目摘要

CTS-9512485 Tsapatsis U of Massachusetts A Powder X-ray Diffractometer (PXRD) will be procured for research in material characterization. The PXRD will have capabilities for in situ high temperature, controlled environment and thin film XRD. Uses for the equipment include characterization of synthetic zeolites, polymeric materials and amphiphilic association structures, as well as identification of layered silicates and other minerals in geological samples. It will support various research projects in advanced materials processing and manufacturing. The PXRD will also be used for training of graduate students.

CTS-9512485 马萨诸塞州的 Tsapatsis U 将采购一台粉末 X 射线衍射仪 (PXRD)，用于材料表征研究。 PXRD 将具有原位高温、受控环境和薄膜 XRD 功能。该设备的用途包括合成沸石、聚合物材料和两亲缔合结构的表征，以及地质样品中层状硅酸盐和其他矿物的鉴定。它将支持先进材料加工和制造方面的各种研究项目。 PXRD 还将用于研究生培训。

项目成果

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通讯作者：
Watcharop Chaikittisilp