NSF Young Investigator
NSF 青年研究员
基本信息
- 批准号：9357535
- 负责人：
- 金额：--
- 依托单位：
- 依托单位国家：美国
- 项目类别：Continuing grant
- 财政年份：1993
- 资助国家：美国
- 起止时间：1993-08-15 至 2000-01-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
9357535 Pelz Microscopic electronic and structural phenomena at surfaces and interfaces will be studied, primarily using STM-related techniques. Planned work includes: (1) study of atomic surface motions during oxidation reactions at elevated temperatures, (2) local electronic properties of dislocations in semiconductor heterostructures, and (3) local electron injection into thin films of insulating materials. ***
9357535 PELZ显微镜电子和界面处的结构现象将主要使用与STM相关的技术研究。计划的工作包括：（1）在温度升高时氧化反应期间原子表面运动的研究，（2）半导体异质结构中位错的局部电子特性，以及（3）局部电子注射到绝缘材料的薄膜中。 ***
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
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