Easily Manufacturable Implementation of Large Area Defect Tolerant IC's

易于制造的大面积缺陷容错 IC

基本信息

  • 批准号:
    8822805
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 31.51万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    美国
  • 项目类别:
    Standard Grant
  • 财政年份:
    1989
  • 资助国家:
    美国
  • 起止时间:
    1989-07-01 至 1991-12-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

This project is developing techniques for fabricating large-area integrated circuits (IC) on standard IC fabrication lines. The circuits under consideration are 10 to 50 times the area of current circuits. The researchers are characterizing manufacturing defects on integrated circuits, and analyzing these to predict chip yields. From these predictions they can select among various techniques for on-chip reconfiguration for defect tolerance.
该项目正在开发在标准 IC 生产线上制造大面积集成电路 (IC) 的技术。 所考虑的电路面积是当前电路面积的 10 至 50 倍。 研究人员正在表征集成电路的制造缺陷,并对其进行分析以预测芯片产量。 根据这些预测,他们可以选择各种技术进行片上重新配置,以实现缺陷容错。

项目成果

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专利数量(0)

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