用大气压等离子体CVD快速制备低温晶化Si薄膜
项目介绍
AI项目解读
基本信息
- 批准号:60776009
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:36.0万
- 负责人:
- 依托单位:
- 学科分类:F0401.半导体材料
- 结题年份:2010
- 批准年份:2007
- 项目状态:已结题
- 起止时间:2008-01-01 至2010-12-31
- 项目参与者:尹旻; 杨映虎; 高平奇; 彭尚龙; 王金晓; 唐泽国; 闫恒庆;
- 关键词:
项目摘要
用非平衡的低温等离子体技术制备薄膜半导体材料需要实现高速化。本项目提出采用非平衡的大气压超高频等离子体CVD技术快速制备用于太阳电池的低温晶化Si薄膜。主要研究内容包括:1)持续稳定的大气压超高频等离子体的生成、诊断及其控制;2)围绕提高薄膜生长速率的目标,实时监控等离子体,对其中的活性粒子生成机理和反应机制进行深入探讨;3)确立最佳反应条件,快速制备出具有优异光电特性的低温晶化Si薄膜;4)低温晶化Si薄膜的电学、光学特性表征及其在太阳电池中的应用探讨。.大气压等离子技术正以其独特的性质和低廉的成本而受到广泛关注。系统研究用非平衡的大气压超高频等离子体CVD技术快速制备低温晶化Si薄膜将会对相关领域的研究产生积极影响。
结项摘要
项目成果
期刊论文数量(8)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
The influence of H2/Ar ratio on Ge content of the mc-SiGe:H films deposited by PECVD
H2/Ar比对PECVD沉积mc-SiGe:H薄膜Ge含量的影响
- DOI:--
- 发表时间:--
- 期刊:
- 影响因子:--
- 作者:
- 通讯作者:
The structure and optical properties of silicon nanowires prepared by inductively coupled plasma chemical vapor deposition
电感耦合等离子体化学气相沉积硅纳米线的结构和光学性能
- DOI:10.1016/j.matlet.2011.01.033
- 发表时间:2011-04
- 期刊:Materials Letters
- 影响因子:3
- 作者:
- 通讯作者:
The optoelectronic properties of silicon films deposited by inductively coupled plasma CVD
电感耦合等离子体CVD沉积硅薄膜的光电特性
- DOI:10.1016/j.apsusc.2010.07.071
- 发表时间:2010-11
- 期刊:Applied Surface Science
- 影响因子:6.7
- 作者:
- 通讯作者:
Effect of Ar in the source gas on the microstructure and optoelectronic properties of microcrystalline silicon films deposited by plasma-enhanced CVD
源气中Ar对等离子体增强CVD沉积微晶硅薄膜微观结构和光电性能的影响
- DOI:10.1016/j.apsusc.2010.08.068
- 发表时间:2010-12
- 期刊:Applied Surface Science
- 影响因子:6.7
- 作者:
- 通讯作者:
Deposition and growth mechanism of low-temperature crystalline silicon films on inexpensive substrates
廉价衬底上低温晶体硅薄膜的沉积和生长机制
- DOI:--
- 发表时间:--
- 期刊:
- 影响因子:--
- 作者:
- 通讯作者:
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- 通讯作者:Song Yin Zhang Chonghong Yang Yitao Li Bingsheng M
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- DOI:--
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- 通讯作者:贺德衍
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