基于可靠度分析的电子系统故障预报
项目介绍
AI项目解读
基本信息
- 批准号:69971026
- 项目类别:面上项目
- 资助金额:12.0万
- 负责人:
- 依托单位:
- 学科分类:F0118.电路与系统
- 结题年份:2002
- 批准年份:1999
- 项目状态:已结题
- 起止时间:2000-01-01 至2002-12-31
- 项目参与者:黄允华; 单甘霖; 封吉平; 唐力伟; 陈圣俭;
- 关键词:
项目摘要
分析元器件故障机理和可靠度,研究系统状态监测和故障报的新方法。重点:可靠性模糊分析:状态判别函数和状磁性识别模式型的构建:建立系统仿真平台,对实验收数据进行处理、分析、调整原理性模型。该研究可用于设备常规检查和预防性维修中,对电子系统充分发挥效能,提高系统的综合效率,特别是对军用电子装备,提高其战斗力有着重要的意义。
结项摘要

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项目成果
期刊论文数量(13)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
连续工作型电子装备战备完好性预计
- DOI:--
- 发表时间:--
- 期刊:电子产品可靠性与环境试验
- 影响因子:--
- 作者:李刚 陈国通 蔡金燕
- 通讯作者:李刚 陈国通 蔡金燕
电子装备战备完好率预测算法研究
- DOI:--
- 发表时间:--
- 期刊:现代电子技术
- 影响因子:--
- 作者:李刚 陈国通 蔡金燕
- 通讯作者:李刚 陈国通 蔡金燕
电子系统故障诊断的测试策略研究
- DOI:--
- 发表时间:--
- 期刊:测试技术学报
- 影响因子:--
- 作者:蔡金燕 都学新 张宏伟
- 通讯作者:蔡金燕 都学新 张宏伟
电子装备战备完好性预测模型研究
- DOI:--
- 发表时间:--
- 期刊:现代电子技术
- 影响因子:--
- 作者:李刚 陈国通 蔡金燕
- 通讯作者:李刚 陈国通 蔡金燕
组合逻辑多故障诊断
- DOI:--
- 发表时间:--
- 期刊:微电子学
- 影响因子:--
- 作者:梁玉英 蔡金燕 封吉平
- 通讯作者:梁玉英 蔡金燕 封吉平
共 13 条
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其他文献
电冲击加速退化试验的雷达电路板故障趋势预测方法研究
- DOI:--
- 发表时间:2014
- 期刊:计算机测量与控制
- 影响因子:--
- 作者:李伟;梁玉英;蔡金燕;张国龙
- 通讯作者:张国龙
胚胎电子细胞阵列中空闲细胞的配置研究
- DOI:--
- 发表时间:2016
- 期刊:航空学报
- 影响因子:--
- 作者:蔡金燕;孟亚峰;刘晓攀;潘钢
- 通讯作者:潘钢
基于Semi-Markov模型的多态系统不完全维修决策研究
- DOI:--
- 发表时间:2016
- 期刊:航空学报
- 影响因子:--
- 作者:潘刚;尚朝轩;蔡金燕;孟亚峰
- 通讯作者:孟亚峰
失效阵元对阵列天线性能影响分析
- DOI:--
- 发表时间:2019
- 期刊:电光与控制
- 影响因子:--
- 作者:朱赛;蔡金燕;韩春辉;安婷;曲利峰
- 通讯作者:曲利峰
Evolutionary Design of Fault-Tolerant DigitalCircuit Based on Cartesian Genetic Programming
基于笛卡尔遗传规划的容错数字电路的进化设计
- DOI:--
- 发表时间:2016
- 期刊:东华大学学报(英文版)
- 影响因子:--
- 作者:李丹阳;蔡金燕;朱赛;孟亚峰
- 通讯作者:孟亚峰
共 57 条
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蔡金燕的其他基金
电子产品性能退化试验与故障趋势预测研究
- 批准号:61271153
- 批准年份:2012
- 资助金额:76.0 万元
- 项目类别:面上项目
基于多层融合模式的电子装备故障预测理论与方法研究
- 批准号:60472009
- 批准年份:2004
- 资助金额:28.0 万元
- 项目类别:面上项目