基于可靠度分析的电子系统故障预报

项目介绍
AI项目解读

基本信息

  • 批准号:
    69971026
  • 项目类别:
    面上项目
  • 资助金额:
    12.0万
  • 负责人:
  • 依托单位:
  • 学科分类:
    F0118.电路与系统
  • 结题年份:
    2002
  • 批准年份:
    1999
  • 项目状态:
    已结题
  • 起止时间:
    2000-01-01 至2002-12-31

项目摘要

分析元器件故障机理和可靠度,研究系统状态监测和故障报的新方法。重点:可靠性模糊分析:状态判别函数和状磁性识别模式型的构建:建立系统仿真平台,对实验收数据进行处理、分析、调整原理性模型。该研究可用于设备常规检查和预防性维修中,对电子系统充分发挥效能,提高系统的综合效率,特别是对军用电子装备,提高其战斗力有着重要的意义。

结项摘要

暂无数据

项目成果

期刊论文数量(13)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
连续工作型电子装备战备完好性预计
  • DOI:
    --
  • 发表时间:
    --
  • 期刊:
    电子产品可靠性与环境试验
  • 影响因子:
    --
  • 作者:
    李刚 陈国通 蔡金燕
  • 通讯作者:
    李刚 陈国通 蔡金燕
电子装备战备完好率预测算法研究
  • DOI:
    --
  • 发表时间:
    --
  • 期刊:
    现代电子技术
  • 影响因子:
    --
  • 作者:
    李刚 陈国通 蔡金燕
  • 通讯作者:
    李刚 陈国通 蔡金燕
电子系统故障诊断的测试策略研究
  • DOI:
    --
  • 发表时间:
    --
  • 期刊:
    测试技术学报
  • 影响因子:
    --
  • 作者:
    蔡金燕 都学新 张宏伟
  • 通讯作者:
    蔡金燕 都学新 张宏伟
电子装备战备完好性预测模型研究
  • DOI:
    --
  • 发表时间:
    --
  • 期刊:
    现代电子技术
  • 影响因子:
    --
  • 作者:
    李刚 陈国通 蔡金燕
  • 通讯作者:
    李刚 陈国通 蔡金燕
组合逻辑多故障诊断
  • DOI:
    --
  • 发表时间:
    --
  • 期刊:
    微电子学
  • 影响因子:
    --
  • 作者:
    梁玉英 蔡金燕 封吉平
  • 通讯作者:
    梁玉英 蔡金燕 封吉平
共 13 条
  • 1
  • 2
  • 3
前往

其他文献

电冲击加速退化试验的雷达电路板故障趋势预测方法研究
  • DOI:
    --
  • 发表时间:
    2014
  • 期刊:
    计算机测量与控制
  • 影响因子:
    --
  • 作者:
    李伟;梁玉英;蔡金燕;张国龙
  • 通讯作者:
    张国龙
胚胎电子细胞阵列中空闲细胞的配置研究
  • DOI:
    --
  • 发表时间:
    2016
  • 期刊:
    航空学报
  • 影响因子:
    --
  • 作者:
    蔡金燕;孟亚峰;刘晓攀;潘钢
  • 通讯作者:
    潘钢
基于Semi-Markov模型的多态系统不完全维修决策研究
  • DOI:
    --
  • 发表时间:
    2016
  • 期刊:
    航空学报
  • 影响因子:
    --
  • 作者:
    潘刚;尚朝轩;蔡金燕;孟亚峰
  • 通讯作者:
    孟亚峰
失效阵元对阵列天线性能影响分析
  • DOI:
    --
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
    电光与控制
  • 影响因子:
    --
  • 作者:
    朱赛;蔡金燕;韩春辉;安婷;曲利峰
  • 通讯作者:
    曲利峰
Evolutionary Design of Fault-Tolerant DigitalCircuit Based on Cartesian Genetic Programming
基于笛卡尔遗传规划的容错数字电路的进化设计
  • DOI:
    --
  • 发表时间:
    2016
  • 期刊:
    东华大学学报(英文版)
  • 影响因子:
    --
  • 作者:
    李丹阳;蔡金燕;朱赛;孟亚峰
  • 通讯作者:
    孟亚峰
共 57 条
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 12
前往

正在为您生成内容...

蔡金燕的其他基金

电子产品性能退化试验与故障趋势预测研究
  • 批准号:
    61271153
  • 批准年份:
    2012
  • 资助金额:
    76.0 万元
  • 项目类别:
    面上项目
基于多层融合模式的电子装备故障预测理论与方法研究
  • 批准号:
    60472009
  • 批准年份:
    2004
  • 资助金额:
    28.0 万元
  • 项目类别:
    面上项目